DeFelsko PosiTest PG Gebrauchsanweisung Seite 11

7. Observar el corte a través del ocular, enfocando el
microscopio y girando el ocular si es necesario con el fin de
alinear adecuadamente las marcas del retículo con la raya.
NOTAS:
Al tomar medidas, conviene a menudo alinear una de
las principales marcas graduadas con el borde del revestimien-
to. No es necesario alinearla con el cero de la escala graduada.
Sustrato
0 10 20 30
0.0 0.2 0.4 0.6 0.8
Revestimiento
(1x Punta de corte) = 0,76mm / 760µm / 0,03" / 30 mils
(2x Punta de corte) = 0,38mm / 380µm / 0,015" / 15mils
Medición
(10x Punta de corte) = 0,076 mm / 76 µm / 0,003" / 3 mils
8. Registrar la anchura del corte, midiendo desde el borde del
substrato hasta el borde de la marca de contraste, contando
el número de graduaciones. Si se trata de medir un sistema
de revestimiento multicapa, se puede registrar la anchura de
cada capa individual.
NOTAS:
Las medidas en mils/pulgadas se deben tomar medi-
ante las marcas de graduación que se encuentran encima de la
línea central. Las medidas en micrones/milímetros se deben
tomar mediante las marcas de graduación que se encuentran
debajo de la línea central.
9. Multiplicar la anchura medida del corte por el factor de
conversión de la siguiente tabla para determinar el espesor del
revestimiento.
Medición
40 50 60 70
1.2
1.0
Marcador
2
1 DIV = 1 mil
1.4 1.6 1.8
1 DIV = 0,02 mm