Ausfallwahrscheinlichkeit Eines Logischen Laufwerks In Abhängigkeit Von Der Anzahl Der Laufwerke Im Array - HP Smart Array 6i Benutzerhandbuch

38 HP Smart Array 6i Controller Benutzerhandbuch
Bei jeder RAID-Ebene steigt die Wahrscheinlichkeit des Ausfalls eines logischen
Laufwerks mit steigender Anzahl der physischen Laufwerke im logischen
Laufwerk. Dies verdeutlicht das folgende Diagramm („Ausfallwahrscheinlichkeit
eines logischen Laufwerks in Abhängigkeit von der Anzahl der Laufwerke im
Array" auf Seite 38). Die Daten dieses Diagramms werden anhand der mittleren
Zeit zwischen Ausfällen für ein typisches physisches Laufwerk berechnet (Mean
Time Between Failure, MTBF), wobei davon ausgegangen wird, dass kein
Online-Ersatzlaufwerk vorhanden ist. Wenn einer beliebigen fehlertoleranten
RAID-Konfiguration ein Online-Ersatzlaufwerk hinzugefügt wird, sinkt die
Wahrscheinlichkeit des Ausfalls eines logischen Laufwerks weiter.
Ausfallwahrscheinlichkeit eines logischen Laufwerks
in Abhängigkeit von der Anzahl der Laufwerke im Array