Reaktionszeiten
T1s
T2s
Maximale Reaktionszeit auf externe Kurzschlüsse
t <= 2 * T
T1x
T2x
n
x
Maximale Reaktionszeit auf Diskrepanzfehler bei 1oo2 (2v2)-Auswertung
t <= 2 * T
T1p
T2p
T1s
T2s
82
Testzeit für die Geberversorgung des Gebers 2
Hochlaufzeit des Gebers nach dem Kurzschlusstest (Geber 2)
+ 2 * (n * 10 * T
) + 2 * Summe [x=0...15](T1x + T2x)
cycle
cycle
Zeit für den Gebertest
Hochlaufzeit des Gebers nach dem Kurzschlusstest
Anzahl der Geberversorgungen mit aktiviertem Kurzschlusstest
Geberversorgung
+ 2 * Eingangsverzögerung + Diskrepanzzeit + max. (T1p + T2p, T1s + T2s)
cycle
Testzeit für die Geberversorgung des Gebers 1
Hochlaufzeit des Gebers nach dem Kurzschlusstest (Geber 1)
Testzeit für die Geberversorgung des Gebers 2
Hochlaufzeit des Gebers nach dem Kurzschlusstest (Geber 2)
Digitaleingabemodul F-DI 16x24VDC HA (6DL1136-6BA00-0PH1)
Gerätehandbuch, 09/2020, A5E45647535-AB