EINFÜHRUNG
ABSCHNITT 1
EINFÜHRUNG
Das CITS100 (CITS = Controlled Impedance Test System) wurde entwickelt, um
kostengünstig automatische TDR-Impedanzmessungen auf Leiterplatten durchführen zu
können.
Abb. 1-1 Das CITS100 Controlled Impedance Test System
Wie oben erkennbar, ist das Testsystem CITS100 ein computergesteuertes Meßsystem,
das Steuerprogramm läuft auf einem IBM-kompatiblen AT-PC.
Die Verbindung zwischen dem CITS100 und den zu testenden Platinen erfolgt mit einem
speziellen Tastkopf (in der Folge Microstrip Probe genannt) und dem zugehörigen
Verbindungskabel.
Für einen Schirmausdruck (Hardcopy) können eine Vielzahl verschiedener Drucker
angeschlossen werden.
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