Perel Tools EAVM360 Bedienungsanleitung Seite 19

d. Prueba de corriente CC
1. Conecte la punta de prueba negra (-) al conector COM, y la punta de prueba roja (+) al conector + (o conector
CC 10 A).
2. Coloque el selector de rango en la posición DCA.
3. Conecte la punta de prueba roja a la polaridad positiva del circuito que quiere probar y la punta de prueba negra
a la polaridad negativa.
4. El valor medido aparece en la escala DCV.A. Tenga en cuenta la lista de referencia.
e. Prueba de tensión CA en el borne de salida (output)
1. Conecte la punta de prueba roja al conector OUTPUT y la punta de prueba negra al conector - COM.
2. Coloque el selector de rango en la buena posición. Conecte las puntas de prueba al circuito que quiere probar. El
valor medido se visualiza en la escala ACV.
Estas pruebas se hacen para bloquear la tensión CC que se encuentra en el mismo circuito y que se debe filtrar
para que se visualice la tensión CA sin componente CC.
f. Prueba de transistor Iceo
1. Conecte las puntas de prueba a los conectores COM y +.
2. Coloque el selector de rango en la posición x10 (15mA) para transistores pequeños, o en la posición x1 (150mA)
para transistores grandes.
3. Ajuste 0Ω ADJ para poner la aguja en la posición cero de la escala Ω.
4. Conecte el transistor al multímetro:
Para un transistor NPN, conecte el borne "N" del multímetro al COLECTOR (C) del transistor y el borne "P" del
multímetro al EMISOR (E) del transistor.
Para un transistor PNP, cambie las conexiones del transistor NPN.
5. Lea la escala Iceo. Si la aguja está en la zona LEAK o si la aguja está en el máximo, el transistor probado ya no
es bueno. En los otros casos, el transistor es bueno.
g. Prueba de transistor hFE (amplificación CC)
1. Coloque el selector de rango en la posición x 10.
2. Ajuste 0Ω ADJ para colocar la aguja en la posición
cero.
3. Prueba de hFE (amplificación CC).
4. Lea la escala hFE. El valor visualizado es Ic / Ib. Eso es el grado de amplificación CC del transistor probado.
h. Prueba de diodos
1. Coloque el selector de rango en la posición seleccionada:
x 1K para probar 0 - 150 µ A,
x 100 para probar 0 - 1.5 mA,
x 10 para probar 0 - 15 mA,
x 1 para probar 0 - 150 mA.
2. Conectar el diodo al multímetro.
Para una prueba de I
diodo y el borne "P" del multímetro a la polaridad negativa (cátodo) del diodo.
Para una prueba de I
3. Lea I o I en la escala LI.
F R
4. Lea la tensión lineal directa del diodo en la escala LV durante la prueba de I
EAVM360
(corriente directa), conecte el borne "N" del multímetro a la polaridad positiva (ánodo) del
F
(corriente inversa), invierta las conexiones.
R
Para transistor NPN
F
19
Para transistor PNP
o I .
R
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