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Axio Vert.A1
4.12
Beleuchtungs- und Kontrastverfahren im Auflicht
4.12.1
Auflicht - Hellfeld
Die Auflicht-Hellfeldmikroskopie ist das einfachste und verbreitetste optische Mikroskopierverfahren, das
die Untersuchung lichtundurchlässiger Proben oder Objekte, wie z. B. Werkstoffanschliffe oder Wafer,
zum Inhalt hat.
Das von der Auflichtleuchte kommende und gebündelte Licht wird an einem farbneutralen Strahlenteiler
reflektiert und passiert anschließend das Objektiv, welches die Strahlen auf die Probenoberfläche
fokussiert (sogenannte Kondensorfunktion). Das Objektiv sammelt das am Objekt reflektierte Licht und
erzeugt zusammen mit der Tubuslinse das mikroskopische Zwischenbild, welches anschließend visuell
beobachtet oder objektiv dokumentiert werden kann.
Voraussetzungen
− Das Mikroskop ist entsprechend Kapitel 3 ordnungsgemäß in Betrieb genommen.
− Das Mikroskop ist eingeschaltet.
− Auflichtbeleuchtung VIS-LED oder HAL 100
Hellfeld einstellen
Objekt auf den Objekttisch (Bild 4-14/1) auflegen und bei schwacher Vergrößerung, z. B. mit dem
•
Objektiv EC Epiplan 10x mittels Fokussiertrieb (Bild 4-14/3) scharfstellen. Am Reflektorrevolver
(Bild 4-14/2) die Position für Hellfeld einstellen.
•
Leuchtfeldblende (Bild 4-14/7) soweit schließen, bis ihr Rand im Sehfeld sichtbar wird. Mit Kugelkopf-
Schraubendreher SW 3 zum Sehfeldrand zentrieren.
•
Aperturblende (Bild 4-14/6) etwas schließen. Okular entfernen.
•
Aperturblende mit Zentrierschrauben zentrieren.
•
Größe der Aperturblende für Objekte mit mittleren Kontrasteigenschaften Stellrad auf etwa 2/3 bis 4/5
des Durchmessers der Austrittspupille des Objektives einstellen. Okular wieder einsetzen.
Die Aperturblende dient nicht zur Regelung der Bildhelligkeit!
05/2012
BEDIENUNG
Beleuchtungs- und Kontrastverfahren im Auflicht
431030-7044-000
Carl Zeiss
87
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