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7.13 Diodentest

Vorsicht
Zur Vermeidung von Schäden am Instrument oder im zu testen-
den Gerät vor einem Diodentest die Netzstrom-
verbindung trennen und alle Hochspannungs-
kondensatoren entladen.
Der Diodentest wird zur Überprüfung von Dioden,
Transistoren, steuerbaren Siliziumgleichrichtern (SCR)
und anderen Halbleitern verwendet. Diese Funktion testet
eine Halbleiterverbindung, indem Strom durch die
Verbindung geschickt und dann der Spannungsabfall
gemessen wird. Bei einer Siliziumverbindung fällt eine
Spannung zwischen 0,5 V und 0,8 V ab.
Eine nicht eingelötete Diode wird mit dem Instrument wie in
Abbildung 6 gezeigt gemessen. Für die Bestimmung der
Durchlaßvorspannung an einem Halbleiterbauteil muß
die rote Meßleitung mit dem positiven Anschluß des
Bauteils und die schwarze Meßleitung mit dem negativen
Anschluß des Bauteils verbunden werden.
In einem Schaltkreis sollte eine funktionierende Diode immer noch
eine Durchlaßspannung von 0,5 V bis 0,8 V zeigen.
Die Sperrspannung kann jedoch je nach dem Gesamtwiderstand
zwischen den Meßsondenspitzen verschiedene Werte aufweisen.
22
Durchlaßvorspannung
Typischer
ECOM
Ex-DM 1000
Meßwert
MIN MAX
RANGE
HOLD
H
REL
Hz
PEAK MIN MAX
4 1/2 DIGITS
1 Seconds
mV
mA
V
A
µA
V
OFF
mA µA
A
COM
V
!
400mA MAX
CAT II
FUSED
10A MAX
1000V MAX
FUSED
!
Sperrvorspannung
ECOM
Ex-DM 1000
MIN MAX
RANGE
HOLD
H
REL
Hz
4 1/2 DIGITS
PEAK MIN MAX
1 Seconds
mV
mA
V
A
µA
V
OFF
mA µA
V
A
COM
!
400mA MAX
CAT II
FUSED
10A MAX
1000V MAX
FUSED
!
Abbildung 6. Diodentest
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