Klemmen K 6 Und K 8 , K5 Und K 8 Oder K10 Und Kll, Eine Beliebige - Philips GM 3153 Kundendienstanleitung

etwa 10000 Hz synchronisiert sind. Die punktierte Linie kann
jedoch photographisch veranschaulicht werden. An der Zahl
der Punkte ist dann die Zeitdauer eines einmaligen Vorganges
festzustellen, da ja jeder Lichtpunkt 1/10000 Sekunde darstellt.
In Stellung 4 des Schalters A3 liegt die Spannung von 10000
Hz über Schalter A2 und Kondensator C24 an den Vertikalplatten
und entsteht auf dem Schirm nun ein voll ausgezogenes Bild der
Oszillatorspannung mit einer konstanten Amplitude.
Indem man an einen Teil des Rückkopplungsspule, etwa an die

Klemmen K 6 und K 8 , K5 und K 8 oder K10 und Kll, eine beliebige

Impedanz anschliesst, wird die Höhe des Bildes weniger abhängig
vom Wert der Impedanz.
Diese Eigenschaft wird ausgenutzt, um rasch Impedanz reihen
miteinander zu vergleichen, z.B. die Spulen eines Ankers mit
Kollektor. Zwei Bürsten werden auf nebeneinander befindliche
Kollektorlamellen gelegt, und der Anker wird mit einer Ge­
schwindigkeit gedreht, welche mit der Frequenz der Zeitachse
synchronisiert ist. Nacheinander werden nun alle anderen Spulen
für einen Augenblick parallel zum Oszillator geschaltet, und
es entsteht auf dem Schirm ein gezahntes Bild, bei welchem jede
Zahnhöhe ein Mass für die Impedanz der jeweiligen Ankerspule
ist. Eine kurzgeschlossene oder unterbrochene Ankerspule ist
an einem erniedrigten bzw. erhöhten Bildes betreffenden Zahnes
zu erkennen.
II. Schaltungskombinationen.
Im Anschluss an die unter I besprochenen verschiedenen
EinzelSchaltungen möge untenstehend eine Übersicht über die
Kombinationsmöglichkeiten folgen.
Die verschiedenen Messungen sind in folgende Hauptgruppen
einzuteilen:
A. Spannungsmessungen (siehe Abb.4) .
Hierzu gehören alle Messungen, bei denen nur die senkrech­
ten Platten benutzt werden und nur auf die Länge des senkrechten
Leuchtstreifens geachtet wird, z.B.: Spannungs-, Strom- und
Ausgangsleistungsmessungen.
B. Phasen- und Charakteri'stiekmessungen (siehe Abb.5) .
Hierzu gehören alle Messungen, bei denen sowohl den Verti­
kal- wie den Horizontalplatten eine fremde Spannung zugeführt
und der Verlauf der Spannungen untereinander beobachtet wird
z.B.:
Phasenverschiebung,
Charakteristiken von Radioröhren,
Verzerrung,
Modulationstiefe.