Belichtungssteuerung - Canon EOS 5D Mark IV Bedienungsanleitung
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Andere Handbücher für EOS 5D Mark IV:
- Bedienungsanleitung (180 Seiten) ,
- Bedienungsanleitung (8 Seiten)
Inhaltsverzeichnis
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Technische Daten
• Autofokus (bei Aufnahmen über den Sucher)
Typ:
AF-Messfelder:
Fokussierungs-
helligkeitsbereich:
Fokusbetrieb:
AF-Bereich-
Auswahlmodus:
Bedingungen für die
automatische Auswahl
des AF-Messfelds:
AF-Konfigurationstool:
Eigenschaften
AI Servo AF:
Anpassung der
AF-Funktionen:
AF-Feinabstimmung:
AF-Hilfslicht:
• Belichtungssteuerung
Messmethode:
Fokussierungs-
helligkeitsbereich:
576
TTL-sekundäre Bildregistrierung, Erkennung von Phasen-
unterschieden mit speziell dafür entwickeltem AF-Sensor
Max. 61 Messfelder (AF-Kreuzfeld: max. 41 Messfelder)
* Die Anzahl der verfügbaren AF-Messfelder, dualen
AF-Kreuzfelder und AF-Kreuzfelder ist von dem jeweils
verwendeten Objektiv abhängig.
* f/2.8-empfindlicher, dualer Kreuzfeld-AF mit 5 mittigen,
vertikalen AF-Messfeldern (AF-Gruppe: mit Objektiven
der Gruppe A)
EV -3-18 (Bedingungen: auf f/2.8 reagierendes mittleres
AF-Messfeld, One-Shot-AF, Zimmertemperatur, ISO 100)
One-Shot AF, AI Servo AF, AI Focus AF, Manuelle
Fokussierung (MF)
Spot-AF (manuelle Wahl), Einzelfeld-AF (manuelle Wahl),
AF-Bereich erweitern (manuelle Wahl: oben, unten, links
und rechts), AF-Bereich-Erweiterung (manuelle Wahl:
Umgebung), AF-Messfeldwahl in Zone (manuelle Wahl
einer Zone), AF-Messfeldwahl in großer Zone (manuelle
Auswahl einer Zone), Automatische Wahl (AF)
Je nach EOS iTR AF-Einstellung
(Ermöglicht AF mit Informationen zu Gesicht/Farbe)
* iTR: Intelligent Tracking and Recognition (intelligente
Nachführung und Erkennung).
Case 1-6
AI Servo-Reaktion, Nachführung Beschleunigung/
Verzögerung, AF-Messfeld-Nachführung
17 Funktionen
AF-Feinabstimmung (alle Objektive um gleichen Wert,
Abstimmung pro Objektiv)
Aktiviert durch das Speedlite-Blitzgerät für EOS
Ca. 150.000-Pixel-RGB+IR-Messsensor und TTL-
Offenblendenmessung mit 252 Messsektoren
EOS iSA-System (Intelligent Subject Analysis)
• Mehrfeldmessung (mit jedem AF-Messfeld verknüpft)
• Selektivmessung (über ca. 6,1 % des Sucherfelds in der Mitte)
• Spotmessung (über ca. 1,3 % des Sucherfelds in der Mitte)
• Mittenbetonte Messung
EV 0–20 (bei Raumtemperatur, ISO 100)
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