Dell PowerVault 715N Fehlerbehebungshandbuch Seite 10

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Diagnose-Testtypen
Die Beschreibung der Diagnosetests wird in folgende Kategorien unterteilt: CPU, Speicher, Systemplatine, IDE-
Festplattenlaufwerk und Netzwerk-Controller.
CPU
Wählen Sie Processor Tests (Prozessor-Tests) im Menü System für CPU-Tests. Durch diese Tests wird sichergestellt,
daß die CPU ordnungsgemäß funktioniert. Die Prozessor-Tests enthalten folgende Komponenten:
Basic Functionality (Grundlegende Funktionalität) - überprüft, ob die CPU in allen Adressierungs-Modi richtig
und effizient arbeitet. Der Test wird im 16-Bit-Realmodus durchgeführt.
Speed (Geschwindigkeit) - bestimmt die CPU-Taktrate und zeigt diese an. Auf dem Bildschirm wird die erwartete
Prozessortaktrate und die derzeitige CPU-Taktrate angezeigt. Die CPU-Taktrate wird durch Bestimmung der Anzahl
von CPU-Taktzyklen ermittelt, die während einer bekannten Zeitperiode auftreten.
Protected Mode (Geschützter Modus) - überprüft die Anweisungen des geschützten Modus, die normalerweise
von den meisten modernen Betriebssystemen zum Wechsel in den geschützten Modus verwendet werden.
Coprocessor (Coprozessor) - überprüft die Funktionalität des mathematischen Coprozessors. Dieser Test lädt und
speichert das Steuerungs- und Statuswort, überprüft den Datentransfer zwischen der CPU und dem
mathematischen Coprozessor und testet die Ausnahme-Überprüfung während des Datentransfers.
Speicher
Speichertests, die die Größe des Systemspeichers anzeigen, schreiben in alle Bereiche des installierten DRAM-
Systemspeichers bis zu 2 GB. Das Systemdiagnoseprogramm isoliert fehlerhafte Speichermodule und blendet eine Meldung
ein, in der die Lage des fehlerhaften Speichers identifiziert wird.
Speichertests beinhalten:
BIOS ROM Test (BIOS-ROM-Test) - überprüft den Datenpfad des BIOS-ROM und stellt sicher, daß das ROM
schreibgeschützt ist.
Parity Test (Paritätstest) - findet Paritätsfehler im gesamten Systemspeicher. Mit diesem Test kann eine
Datenverfälschung aufgrund von Hardwareproblemen des DRAM-Systemspeichers am besten identifiziert und
angezeigt werden. Dieser Test überprüft den Paritätsfehler-Erkennungsschaltkreis im DRAM.
Pattern Tests (Mustertests) - einschließlich Testroutinen, bei denen eine Reihe von Testmustern in den Speicher
geschrieben werden, die dann wieder zurückgelesen werden und mit den ursprünglichen, geschriebenen Mustern
verglichen werden. Der Test Anweisungen in den Speicher schreiben und lesen wird für den gesamten DRAM
durchgeführt. Die folgenden Tests sind Untertests des Mustertests.
Extended Pattern Test (Erweiterter Mustertest) enthält die folgenden beiden Testroutinen, bei denen
Daten in den Speicher geschrieben, aus dem Speicher zurückgelesen und verglichen werden:
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