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Mitutoyo MF-Serie Bedienungsanleitung Seite 57

Messmikroskop

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3.7
Auswahl der Beleuchtungsmethode
Die Auswahl der Beleuchtungsmethode richtet sich nach der Art des Werkstücks.
3.7.1
Durchlicht
Wählen Sie diese Beleuchtungsmethode für die Messung und Prüfung von
Werkstück-Konturen. Bei der Durchlicht-Beleuchtung wird ein telezentrisches System (*1)
verwendet. Stellen Sie die Helligkeit mit dem Helligkeitsregler des Durchlichts und – bei
zylindrischen Werkstücken – über die Aperturblende ein. Die Lichtintensität ist stufenlos
regelbar. In das Durchlicht können maximal zwei Filter eingesetzt werden.
TIPP
(*1) Telezentrisches System: Bei dieser Beleuchtungsmethode ist das optische
System so platziert, dass die Größe des Bild-Mittelpunkts sich auch bei
verblassender Projektion nicht verändert, selbst, wenn der Fokus in Richtung der
optischen Achse abweicht. Auf diese Weise wird der Vergrößerungsfehler bei der
Scharfeinstellung vermieden.
3.7.2
Vertikales Auflicht
Diese
Werkstück-Oberflächen. (Die Oberfläche sollte nicht extrem rau sein.) Hierbei wird das
sogenannte Koehler-System (*2) eingesetzt. Die Vorteile dieses Systems werden
besonders bei der Messung von hochglanzpolierten Werkstücken ausgenutzt.
TIPP
(*2) Koehler-System: Bei dieser Beleuchtungsmethode ist das optische System
so platziert, dass das Licht der Beleuchtung (das Bild) nicht direkt auf der
Betrachtungsebene abgebildet wird, sondern der gesamte Betrachtungsbereich
gleichmäßig und mit großer Helligkeit von parallelem Licht bestrahlt wird.
3.7.3
Kombinierte Nutzung von Durchlicht und Auflicht
Durchlicht und vertikales Auflicht können auch zusammen eingesetzt werden. Dies
ermöglicht die gleichzeitige Prüfung von Kontur- und Oberflächen-Merkmalen eines
Werkstücks.
3-8
Beleuchtungsmethode
empfiehlt
sich
zum
Messen
und
Prüfen
Nr. 99MBA241D
von

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