Olympus Vanta-Serie Benutzerhandbuch Seite 97

HINWEIS
Für Siliziumanalysen die beschichteten Prüfteile nicht mit quarzhaltigem
Schleifmaterial bearbeiten.
Es ist nicht unbedingt nötig alle Prüfteile ganz zu säubern und abzuschleifen.
Sichtbarer Metallstaub sollte jedoch entfernt werden.
Gemischte Proben, heterogene Materialien
Ein fertiges Metallstück kann aus mehr als einem Metall bestehen. Oder es sollen
vermischte Späne oder eine Sammlung von kleinen Teilen geprüft werden. Beachten
Sie dabei, dass der Vanta Analysator den gesamten, vom Messfenster abgedeckten
Bereich analysiert und dass das Ergebnis ein Mittelwert der chemischen
Zusammensetzung ist.
HINWEIS
Vergewissern Sie sich, dass beim Analysieren von Metallteilen oder Schweißnähten
nur das zu messende Metallteil vom Messfenster erfasst wird.
Kleine und unregelmäßig geformte Proben
Um Proben zu messen, die kleiner als das Messfenster sind:
• Die Messzeit muss verlängert werden.
• Das Material muss in optimaler Lage analysiert werden.
Da das Signal von kleinen Proben nicht so intensiv ist, wie das von Proben, die das
Messfenster völlig decken, ist die Genauigkeit der Analyse bei kleinen Teilen
geringer. Analysieren Sie deshalb wenn möglich, die größte, flachste Seite von
unregelmäßig geformten Proben.
HINWEIS
• Verhindern Sie, dass kleine, scharfe Objekte das Messfenster des Analysators
durchstechen. Solche Objekte können zu Schaden führen, der teure Reparaturen
erfordert.
DMTA-10072-01DE, Überarb. F, Mai 2020
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