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Sie können jeden Port mit jedem anderen Port desselben Switch verbinden,
wenn die Verbindung die gleiche Technologie verwendet, z.B. GBIC-SW-
Ports an GBIC-SW-Ports und GBIC-LW-Ports an GBIC-LW-Ports.
Zugehörige Fehlermeldungen sind DIAG-INIT, DIAG-PORTDIED, DIAG-
XMIT, DIAG-TIMEOUT, DIAG-ERRSTAT, DIAG-STATS, DIAG-
PORTWRONG, DIAG-DATA und DIAG-PORTABSENT.
Spin Silk Test
Um den ordnungsgemäßen funktionellen Betrieb des Switch zu überprüfen,
drücken Sie <Eingabe>, während
Frontabdeckung angezeigt wird. Der Sender eines jeden Ports sendet mit Hilfe
des GBIC-Moduls und einem externem Kabel Frames bei voller Hardware-
Geschwindigkeit (1 GB/s) zum Empfänger eines anderen Ports. Es wird der
gesamte Pfad des Switch überprüft. Da der Prozessor nicht die Daten in jedem
Frame vergleicht, meldet der Spin Silk Test keinen DIAG-DATA-Fehler.
Andere für den Cross Port Test definierte Fehlermeldungen und entsprechende
mögliche Ursachen und Aktionen sind auf den Spin Silk Test anwendbar.
HINWEIS: Wenn der Spin Silk Test durchgeführt wird, muß der Wert des Betriebsmodus
auf 0 oder 1 gesetzt werden.
Zugehörige Fehlermeldungen sind DIAG-INIT, DIAG-PORTDIED, DIAG-
XMIT, DIAG-PORTSTOPPED, DIAG-ERRSTAT, DIAG-ERRSTATS und
DIAG-PORTABSENT.
SRAM Data Retention Test
Um zu überprüfen, ob Daten, die in die ASIC-Speicher geschrieben werden,
erhalten bleiben, drücken Sie <Eingabe>, während
auf dem Display der Frontabdeckung angezeigt wird. Zugehörige
Fehlermeldungen sind DIAG-REGERR, DIAG-REGERR_UNRST und
DIAG-BUS_TIMEOUT.
CMEM Data Retention Test
Um zu überprüfen, ob die Daten, die in die SRAMs geschrieben werden, aus
denen der Hauptspeicher besteht, erhalten bleiben, drücken Sie <Eingabe>,
während
angezeigt wird. Zugehörige Fehlermeldungen sind DIAG-LCMEM, DIAG-
LCMRS und DIAG-LCMTO.
CMEM Data Retention Test
auf dem Display der
Spin Silk Test
SRAM Data Retention Test
auf dem Display der Frontabdeckung
Diagnose 5-7
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