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Port-Registertest (Port Register Test)
Um die anwendungsspezifischen integrierten Schaltkreiregister (application
specific integrated circuit (ASIC) registers) des Switch zu testen, drücken Sie
<Eingabe>, während
angezeigt wird. Es werden die Ports 0 bis 15 getestet. Zugehörige
Fehlermeldungen sind DIAG-REGERR, DIAG-REGERR_UNRST und
DIAG-BUS_TIMEOUT.
Hauptspeichertest (Central Memory Test)
Um den Hauptspeicher in jedem ASIC zu testen, drücken Sie <Eingabe>,
während
wird. Mit diesem Test wird sichergestellt, daß:
Der in jedem ASIC-Chip eingebaute sich selbst reparierende Schaltkreis
(built-in self-repair (BISR) circuit) keine Fehler bei zu reparierenden
fehlerhaften Zellen (bisr test) meldet.
Die Datenzellen eindeutig geschrieben und korrekt gelesen werden
können (Daten-Schreib-/-Lese-Test).
Die Daten in jedem beliebigen ASIC von jedem anderen ASIC gelesen
werden können (ASIC-zu-ASIC-Test).
Eine fehlerhafte Parität erkannt und im Fehlerregister markiert wird, und
ein Interrupt ausgegeben werden kann (Paritätsfehler-Test).
Ein Fehler in der Puffer-Anzahl erkannt und im Fehlerregister markiert
wird, und ein Interrupt ausgegeben werden kann (Puffer-Anzahlfehler-
Test).
Ein Fehler in der Chip-Anzahl erkannt und im Fehlerregister markiert
wird, und ein Interrupt ausgegeben werden kann (Chip-Anzahlfehler-
Test).
Zugehörige Fehlermeldungen sind DIAG-CMBISTRO, DIAG-CMBISRF,
DIAG-LCMTO, DIAG-LCMRS, DIAG-LCMEM, DIAG-LCMEMTX,
DIAG-CMNOBUF, DIAG-CMERRTYPE, DIAG-CMERRPTN,
DIAG-PORTABSENT, DIAG-BADINIT und DIAG-TIMEOUT.
Port Register Test
auf dem Display der Frontabdeckung angezeigt
Central Memory Test
auf dem Display der Frontabdeckung
Diagnose 5-5
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