BEHA UNITEST TELARIS Bedienungsanleitung Seite 102

Datos técnicos
Tabla 4
Tipo de Tipo de Factor de Corriente de
diferencial corriente corriente prueba
IΔN IΔN
Selectivo x0,5
(RCCB) x1
(100 mA/ x2
300 mA/ x5
500 mA/ x0,5
1000 mA/ x1
x2
x5
x0,5
x1
x2
x5
Tabla 5
Tipo de Tipo de Factor de Corriente de
diferencial corriente corriente prueba
IΔN IΔN
X0,5
x1
10 mA/ x2
30 mA/ x5
100 mA/ rampa
300 mA/ x0,5
500 mA/ x1
1000 mA x2
x5
rampa
x0,5
x1
x2
x5
rampa
102
Tiempo de disparo
prescrito
IΔN
0,5x -
1x 130...500 ms
2x 60...200 ms
5x 50...150 ms
0,35x
1,4 x 130...500 ms
2,7x 60..200 ms
7x 50...150 ms
0,5x -
2 x <500 ms
4 x <200 ms
10 x <150 ms
Tiempo de
disparo
prescrito
IΔN
0,5x -
1x < 300 ms
2x <150 ms
5x < 40 ms
0,4 x 1,4 x < 300 ms
0,35 x -
1,4x < 300 ms
2,8x <150 ms
7x < 40 ms
0,1 x 2 x < 300 ms
0,5 x -
2 x < 300 ms
4 x < 150 ms
10 x < 40 ms
0,1 x 2 x < 300 ms
Tiempo de Norma
prueba DIN VDE
500 ms IEC61008-1
500 ms IEC61008-1
200 ms IEC61008-1
150 ms IEC61008-1
500 ms IEC61008-1
500 ms IEC61008-1
200 ms IEC61008-1
150 ms IEC61008-1
500 ms 0664 T 100
500 ms 0664 T 100
200 ms 0664 T 100
150 ms 0664 T 100
Tiempo de Norma
prueba
IEC6100-1
2000 ms, IΔN>100 mA, 500 ms
500 ms IEC6100-1
150 ms IEC6100-1
40 ms IEC6100-1
300 ms IEC6100-1
IEC6100-1
2000 ms, IΔN> 100 mA: 500 ms
500 ms IEC6100-1
150 ms IEC6100-1
40 ms IEC6100-1
300 ms IEC6100-1
2000 ms, IΔN> 100 mA: 500 ms
500 ms
150 ms
40 ms
300 ms
Analizador
Fi/RCD
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Analizador
Fi/RCD
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