Canon EOS 5D Mark II Bedienungsanleitung Seite 235

• Sucher
Typ:
Bildabdeckung:
Vergrößerung:
Augenpunkt:
Dioptrieneinstellung:
Mattscheibe:
Spiegel:
Schärfentiefenprüfung: Möglich
• Autofokus
Typ:
AF-Messfelder:
Messbereich:
Scharfeinstellungsmodi: One-Shot AF, AI Servo AF, AI Focus AF, Manuelle
AF-Hilfslicht:
AF Feinabstimmung:
• Belichtungsregelung
Messmodi:
Messbereich:
Belichtungsregelung:
ISO-Empfindlichkeit:
(Empfohlener
Belichtungsindex)
Belichtungskorrektur:
AE-Speicherung:
Dachkant-Spiegelprismensucher
Vertikal/Horizontal ca. 98 %
-1
ca. 0,71-fach (-1 m mit 50-mm-Objektiv in Unendlich-Einstellung)
ca. 21 mm (von der Mitte des Okulars bei -1 m
-1
-3,0 bis +1,0 m (dpt)
Austauschbar (2 Typen, separat erhältlich), Eg-A
Standard-Mattscheibe im Lieferumfang enthalten
Schnellrücklaufspiegel
TTL-sekundäre Bildregistrierung, Phasenerkennung
9 plus 6 AF-Hilfsmessfelder
EV -0,5 bis 18 (bei 23 °C und ISO 100)
Scharfeinstellung (MF)
Aktiviert durch das Speedlite-Blitzgerät für EOS
AF Feinabstimmung ist möglich
TTL-Offenblendenmessung mit 35 Messsektoren
• Mehrfeldmessung (mit jedem AF-Messfeld verknüpfbar)
• Selektivmessung (über ca. 8 % des Sucherfelds im
zentralen Bereich)
• Spotmessung (über ca.3,5 % des Sucherfelds im zentralen Bereich)
• Mittenbetonte Integralmessung
EV 1 - 20 (bei 23 °C mit EF 50 mm 1:1,4 USM Objektiv und ISO 100)
Programmautomatik (Vollautomatik, Kreativ-Automatik,
Programm), Blendenautomatik, Verschlusszeitautomatik,
manuelle Belichtung, Langzeitbelichtung
Vollautomatik, Kreativ-Automatik: Automatisch eingestellt (ISO 100 - 3200)
P, Tv, Av, M, B: ISO 100 - 6400 (in Drittelstufen),
Automatisch oder erweiterbar auf
ISO 50 (L), ISO 12800 (H1) oder
ISO 25600 (H2)
Manuell und AEB (einstellbar in Kombination mit
manueller Belichtungskorrektur)
Maximaler Korrekturwert: ±2 Stufen in Drittel- oder halben Stufen
Automatisch: Im One-Shot AF-Modus mit Mehrfeldmessung,
wenn Scharfeinstellung erzielt wird.
Manuell: Mit Taste für Belichtungsmesswertspeicher
Technische Daten
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