Hameg Instruments HZ65-3 Handbuch Seite 5

Vorwärts- und Rückwärts-Charakteristik darge-
stellt (z.B. bei einer Z-Diode unter 12V usw.). Es
handelt sich immer um eine Zweipol-Prüfung, des-
halb ist z.B. die Verstärkung eines Transistors mit
dem HZ65 nicht feststellbar.
Da die am Testobjekt anliegende Spannung nur ei-
nige Volt beträgt, können die einzelnen Zonen fast
aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft werden.
Tests direkt in der Schalltung sind in vielen Fällen
möglich; allerdings bringt die Parallelschaltung mit
anderen komplexen Bauteilen eine merkliche Ver-
änderung der Testbilder. Mit einiger Erfahrung oder
bei direktem Vergleich mit funktionsfähigen Schal-
tungen lassen sich aber so fehlerhafte Bauelemente
ganz besonders schnell lokalisieren. In Zweifelsfäl-
len kann ein Bauteilanschluß einseitig abgelötet
werden. Messungen mit dem HZ65 nur in strom-
losen Schaltungen vornehmen (Zerstörungs-
gefahr der Schaltung und des Testers).
Oszilloskop-Art
Der HZ65 kann an jedes Oszilloskop, das mit je
einem X- und Y-Eingang ausgerüstet ist, angeschlos-
sen werden (XY-Betrieb oder externe X-Ablenkung).
Testbetrieb
Einzelne Bauteile mit dünnen Anschlußdrähten las-
sen sich am schnellsten an den beiden (parallelge-
schalteten) Transistorfassungen prüfen. Die da-
bei benutzten Fassungskontakte sind mit dem
oberen Schiebeschalter (socket contact) einstell-
bar. Bauteile, die nicht in die Fassungen passen
oder sich in der Schaltung befinden, können über
die mitgelieferten Testkabel an den HZ65 ange-
schlossen werden. Mit dem unteren Schiebe-
schalter (current) kann der Teststrom geändert
werden. Bevorzugte Stellungen sind dafür:
Dioden, Kleinleistungstransistoren, FET's:
Thyristoren, Triacs:
Widerstände bis 5kΩ:
bis 500Ω:
bis 50Ω:
ungepolte Kondensatoren bis 1µF:
bis 10µF:
über 10µF:
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Kompenenten-Test
Die Prüfung einzelner Bauteile ist problemlos. Qua-
litative Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit
funktionsfähigen Bauelementen des gleichen
Typs und Wertes. Dies gilt insbesondere auch für
Halbleiter. Man kann damit z.B. den kathoden-
seitigen Anschluß einer Diode oder Z-Diode mit
unkenntlicher Beschriftung, die Unterscheidung ei-
nes p-n-p-Transistors vom komplementären n-p-n-
Typ oder die richtige Gehäuseanschlußfolge B-E-C
eines unbekannten Transistortyps schnell ermit-
teln. Wichtiger noch ist die einfache Gut-Schlecht-
Aussage über Bauteile mit Unterbrechung oder
Kurzschluß, die im Service-Betrieb erfahrungsge-
mäß am häufigsten benötigt wird.
Die übliche Vorsicht gegenüber einzelnen
MOS-Bauelementen in bezug auf statische
Aufladung oder Reibungselektrizität wird
dringend angeraten.
Nicht so eindeutig sind die Testergebnisse direkt in
der Schaltung. Durch ParalleIschaltung reeller und
komplexen Größen - besonders wenn diese bei 50Hz
relativ niederohmig sind - ergeben sich vielfach gro-
ße Unterschiede gegenüber Einzelbauteilen. Hat man
oft mit Schaltungen gleicher Art zu arbeiten (Service),
dann hilft auch hier ein Vergleich mit einer funkti-
onsfähigen Schaltung. Dies geht sogar besonders
schnell, weil die Vergleichsschaltung gar nicht unter
Strom gesetzt werden muß (und darf!). Mit den Test-
kabeln sind einfach die identischen Meßpunktpaare
nacheinander abzutasten und die Schirmbilder zu ver-
gleichen. Unter Umständen enthält die Testschaltung
selbst schon die Vergleichsschaltung, z.B. bei Ste-
reo-Kanälen, symmetrischen Brückenschaltungen.
In Zweifelsfällen kann ein Anschluß des Bauelemen-
tes abgelötet werden. Dann sollte dieser Anschluß
mit der roten Prüfbuchse des HZ65 verbunden wer-
den, weil sich damit die Brummeinstreuung verrin-
gert. Die schwarze Prüfbuchse liegt direkt an der
Oszilloskop-Masse und ist brumm-unempfindlich.
Medium
Maximum
Brumm kann auch auf dem Bildschirm sichtbar
Minimum
werden, wenn der Basis- oder Gate-Anschluß ei-
Medium
nes einzelnen Transistors offen ist, also gerade
Maximum
nicht getestet wird (Handempfindlichkeit).
Minimum
Medium
Es wird noch einmal darauf hingewiesen:
Maximum
Tests mitdem HZ65 dürfen nur an strom-
losen Bauteilen, Baugruppen oder Schalt-
kreisen vorgenommen werden.
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