Verwandte Anleitungen für Langer P600
Inhaltszusammenfassung für Langer P600
- Seite 1 Bedienungsanleitung P600 / P750 set Leitungsgebundene HF-Messung Analyse - Original - Copyright © Juli 2015 LANGER EMV-Technik GmbH 2018.09.27 Bedienungsanleitung P600_P750 Final.doc...
- Seite 2 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Inhalt: Seite 1 Sicherheitshinweise ..................... 3 2 Lieferumfang ........................ 4 3 Technische Parameter ....................5 Probe P602 ..........................5 Probe P603 ..........................6 Probe P622 ..........................7 Probe P623 ..........................8 Probe P750 ..........................
- Seite 3 Verträglichkeit (EMV) qualifiziert und berechtigt sind und diese Arbeiten ausführen dürfen. Beachten Sie bei Verwendung eines Produktes der Firma Langer EMV-Technik GmbH die folgenden Sicherheitshinweise, um sich vor Stromschlägen oder Verletzungsgefahr zu schützen und die verwendeten Geräte und den Test-IC vor Zerstörung zu schützen.
- Seite 4 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 2 Lieferumfang Pos. Bezeichnung Stck. HF-Strommesser 0.1 Ohm P602 HF-Strommesser 1 Ohm P603 HF-Strom-Probe 0.1 Ohm aktiv P622 HF-Strom-Probe 1 Ohm aktiv P623 HF-Spannungsmesser 150 Ohm P750 Messkabel SMA-SMB 1 m...
- Seite 5 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 3 Technische Parameter 3.1 Probe P602 0.1 Ω Shunt -26 dBΩ Stromkorrekturfaktor R Max. Verlustleistung Shunt 2,5 W Koppelkapazität 8 µF Induktivität des HF Eingangs 1 nH 50 Ω (SMB) HF-Messausgang 0,2 kHz –...
- Seite 6 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 3.2 Probe P603 1 Ω Shunt Übertragungsfaktor V -6 dB -6 dBΩ Stromkorrekturfaktor R Max. Verlustleistung Shunt 2,5 W Koppelkapazität 8 µF Induktivität des HF Eingangs 1 nH 50 Ω (SMB) HF-Messausgang 0,2 kHz –...
- Seite 7 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 3.3 Probe P622 0.1 Ω Shunt Verstärkung 20 dB 0 dBΩ Stromkorrekturfaktor R Max. Verlustleistung Shunt 2,5 W Koppelkapazität 8 µF Induktivität des HF Eingangs 1 nH 50 Ω (SMB) HF-Messausgang 0,2 kHz –...
- Seite 8 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 3.4 Probe P623 1 Ω Shunt Verstärkung 20 dB 20 dBΩ Stromkorrekturfaktor R Max. Verlustleistung Shunt 2,5 W Koppelkapazität 8 µF Induktivität des HF Eingangs 1 nH 50 Ω (SMB) HF-Messausgang 0,2 kHz –...
- Seite 9 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 3.5 Probe P750 Übertragungsfaktor Vout / Vin -15,2 dB 50 Ω (SMB) HF-Messausgang 150 Ω Eingangswiderstand Max. Eingangsspannung HF 3,5 V Max. Eingangsspannung DC 50 V Frequenzbereich 150 kHz bis 3 GHz...
- Seite 10 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 4 Bestimmungsgemäße Verwendung Die Probes P602, 603, P622, P623 und P750 sind für die Messung der leitungsgeführten Aussendung integrierter Schaltungen (ICs) mit 1 Ohm/150 Ohm-Koppelnetzwerk entwickelt. Mit den Probes können Messungen an ICs nach IEC 61967-4 ausgeführt werden (Bild 7). Die Probe P603 entspricht dem 1 Ohm HF-Stromtastkopf.
- Seite 11 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 8: Probe P603, Strommessung mit DC-Entkopplung an zusammengefassten Vdd Pins In der Probe P603 ist als Gleichstromsperre ein 8 µF Kondensator integriert. Er übernimmt in der Schaltung Bild 8 und Bild 10 die Funktion des Stützkondensators.
- Seite 12 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 10: Probe P603, Strommessung an einem Vdd Pin Bild 11: Probe P750, Spannungsmessung an einem unter Funktion stehenden Signalpin - 12 / 39 -...
- Seite 13 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 12: Probe P603, Strommessung an einem unter Funktion stehenden Signalpin Für die Strommessung an Signalpins kann durch den externen Kondensator C die Belastung des Signalpins durch die niedrige Impedanz der Probe (1 Ohm) vermindert werden (Bild 12).
- Seite 14 Filter wird wirksam. Bild 16: Aufbau der Testleiterkarte: Top-Seite mit Vss-Brücken, Bottom-Seite mit Stützkondensatoren, Filtern und Quarzschaltung. Die Testleiterkarte ist in der „Anleitung IC-Test“ beschrieben. mail@langer-emv.de Groundadapter und die Groundplane GND 25 sind in der IC-Testumgebung ICE1 enthalten. www.langer-emv.de...
- Seite 15 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 5 Probe P602 5.1 Allgemeine Beschreibung Die Probe P602 ist ein HF-Stromtastkopf zum Messen von leitungsgebundenen HF Strömen an IC Pins. Die P602 ist für das Messen an Versorgungs- (Vdd / Vss) und Signalpins vorgesehen. Die Messung erfolgt mit einem 0.1 Ohm Shunt.
- Seite 16 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Die Probe P602 besitzt im Inneren den 0.1 Ohm Stromtastkopf. Der Eingang des Stromtastkopfes ist mit dem Pinkontakt der Probe verbunden (Bild 18). Der Ausgang des Stromtastkopfes ist mit dem 50 Ohm SMB Anschluss auf der Rückseite der Probe verbunden.
- Seite 17 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 20: Probe P602 Aufbau der Filter von Vdd / Vss und Signalpins Der Aufbau der Filter, die auf der Unterseite (Bottom) der Testleiterkarte angeordnet werden, sind für Vdd / Vss und Signalpins in Bild 20 dargestellt. Eine Anleitung zum Aufbau der Testleiterkarte befindet sich im Dokument „Anleitung IC-Test“...
- Seite 18 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 6 Probe P603 6.1 Allgemeine Beschreibung Die Probe P603 ist ein HF-Stromtastkopf zum Messen von leitungsgebundenen HF Strömen an IC Pins. Die P603 ist für das Messen an Versorgungs- (Vdd / Vss) und Signalpins vorgesehen. Die Messung erfolgt mit einem 1 Ohm Shunt.
- Seite 19 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 23: Innerer Aufbau der Probe P603 Bild 23 zeigt das Ersatzschaltbild der Probe P603. Der Stromtastkopf besteht aus einem 1 Ohm Shunt, einem 49 Ohm Anpasswiderstand und einem 8 µF Koppelkondensator.
- Seite 20 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 24: Probe P603 Aufbau der Filter von Vdd / Vss und Signalpins Der Aufbau der Filter, die auf der Unterseite (Bottom) der Testleiterkarte angeordnet werden, sind für Vdd / Vss und Signalpins in Bild 24 dargestellt. Eine Anleitung zum Aufbau der Testleiterkarte befindet sich im Dokument „Anleitung IC-Test“...
- Seite 21 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 7 Probe P622 7.1 Allgemeine Beschreibung Die Probe P622 ist ein HF-Stromtastkopf zum Messen von leitungsgebundenen HF Strömen an IC Pins. Die P622 ist für das Messen an Versorgungs- (Vdd / Vss) und Signalpins vorgesehen. Die Messung erfolgt mit einem 0.1 Ohm Shunt.
- Seite 22 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 27: Innerer Aufbau der Probe P622 Bild 27 zeigt das Ersatzschaltbild der Probe P622. Der Stromtastkopf besteht aus einem 0.1 Ohm Shunt, einem 49 Ohm Anpasswiderstand und einem 8 µF Koppelkondensator.
- Seite 23 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 28: Probe P622 Aufbau der Filter von Vdd / Vss und Signalpins Der Aufbau der Filter, die auf der Unterseite (Bottom) der Testleiterkarte angeordnet werden, sind für Vdd / Vss und Signalpins in Bild 28 dargestellt. Eine Anleitung zum Aufbau der Testleiterkarte befindet sich im Dokument „Anleitung IC-Test“...
- Seite 24 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 8 Probe P623 8.1 Allgemeine Beschreibung Die Probe P623 ist ein HF-Stromtastkopf zum Messen von leitungsgebundenen HF Strömen an IC Pins. Die P623 ist für das Messen an Versorgungs- (Vdd / Vss) und Signalpins vorgesehen. Die Messung erfolgt mit einem 1 Ohm Shunt.
- Seite 25 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 31: Innerer Aufbau der Probe P623 Bild 31 zeigt das Ersatzschaltbild der Probe P623. Der Stromtastkopf besteht aus einem 1 Ohm Shunt, einem 49 Ohm Anpasswiderstand und einem 8 µF Koppelkondensator.
- Seite 26 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 32: Probe P623 Aufbau der Filter von Vdd / Vss und Signalpins Der Aufbau der Filter, die auf der Unterseite (Bottom) der Testleiterkarte angeordnet werden, sind für Vdd / Vss und Signalpins in Bild 32 dargestellt. Eine Anleitung zum Aufbau der Testleiterkarte befindet sich im Dokument „Anleitung IC-Test“...
- Seite 27 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 9 Probe P750 9.1 Beschreibung Die Probe P750 ist ein Anpassnetzwerk zum Messen von leitungsgebundenen HF Spannungen an IC Pins nach IEC 61967-4. Die P750 ist für das Messen an Versorgungs- (Vdd / Vss) und Signalpins vorgesehen. Die Messung erfolgt mit einem 150 Ohm Spannungsteiler.
- Seite 28 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 35: Interner Aufbau der Probe P750 Bild 35 zeigt das Ersatzschaltbild der Probe P750. Das Anpassnetzwerk besteht aus einem 120 Ohm – 51 Ohm Spannungsteiler und einem 6,8 nF Koppelkondensator.
- Seite 29 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 10 Kontakterkennung Die Kontakterkennung dient der automatischen Erkennung der vorhandenen galvanischen Verbindung der Probespitze und des zu kontaktierenden Schaltkreis-Pins. Bild 37: Aufbau der Probe P750 mit Taster zur Kontakterkennung Bei Betätigung des Tasters zur Kontakterkennung wird die Probespitze auf ein negatives Potential von -5 V vorgespannt.
- Seite 30 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 11 Messanordnung 11.1 Durchführung der Messung Die Messanordnung zur Messung der leitungsgeführten Aussendungen integrierter Schaltungen (ICs) ist in Bild 38 dargestellt. Der Test-IC ist auf der Testleiterkarte montiert. Die Testleiterkarte wird in den entsprechenden Groundadapter z.B.
- Seite 31 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 38: Messanordnung zur Messung der leitungsgeführten Aussendungen integrierter Schaltungen (IC) mit dem IC- Testsystem. Mit * gekennzeichnete Komponenten sind nicht im Lieferumfang des Probe-Sets „Leitungsgebundene HF-Einkopplung nach IEC 61967-4 “ enthalten.
- Seite 32 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 39: Messanordnung mit dem Probe Set P603 und IC-Testsystem ICE1 ohne Control Unit und Mikroskopkamera. Bild 40: Pinkontaktierung visualisiert mit der Mikroskopkamera. - 32 / 39 -...
- Seite 33 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 11.2 Verwendung der Software ChipScan-ESA Der Spektrumanalysator wird über „Devices/Devices Manager/Detected Devices“ automatisch über die verwendete Schnittstelle gesucht und mit dem PC verbunden (Bild 41). Bild 41:Verbinden des Spektrumanalysators mit dem PC.
- Seite 34 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Das entspricht im logarithmischen einer Subtraktion von 20 Log ω. Die Korrekturkurve (- 20 Log ω) ist in der Liste „Corrections“ des „Trace Managers“ vorhanden. Zur Auswahl für die Korrektur wird im „Spectrum Analyzer Manager“ unter „Correction“ der Button „Select“...
- Seite 35 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 44: Laden der Korrekturkurve „K750“ in den „Corrections Selector“. Wenn mit der Probe P603 gemessen wird, wird im „Corrections Selector“ die Korrekturkurve „K603“ geladen. Im „Spectrum Analyzer Manager“ wird im Feld „Correction“ die Box „Enabled“ mit dem Mauszeiger ①...
- Seite 36 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 45: Messung mit dem HF-Stromtastkopf P603 unter Verwendung der Korrekturkurve „K603“. Unter „Annotation“ wird die Kurvennummer „Curve“ automatisch weitergezählt („Curve 3“) unter „Comment“ kann im entsprechenden Freitextfeld das Messprotokoll geführt werden.
- Seite 37 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 46: Korrektur nach der Messung: Kopieren von „K750“ aus der Liste „Corrections“ in die Liste „Traces“. Im „Trace Manager“ in der Liste „Traces“ Bild 47 werden die Kurve „Curve 1“ (U ) und die Kurve „K750“...
- Seite 38 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 48: Korrektur nach der Messung: Ergebnis der Addition U + K750. Die Bedienungsanleitungen für die jeweiligen Geräte sind in folgender Tabelle aufgeführt. Aufgabe Bedienungsanleitung Anleitung IC-Test (Langer EMV-Technik Anleitung für die Entwicklung der...
- Seite 39 Die Gewährleistung verfällt, wenn: - am Produkt eine nicht autorisierte Reparatur vorgenommen wurde, - das Produkt verändert wurde, - das Produkt nicht bestimmungsgemäß verwendet wurde. Es ist nicht erlaubt, ohne die schriftliche Zustimmung der Langer EMV-Technik GmbH, dieses Dokument oder Teile davon kopieren, vervielfältigen...