Herunterladen Inhalt Inhalt Diese Seite drucken

Langer MP CI Benutzerhandbuch

Ic test system koppelinduktivitätsmessplatz

Werbung

Benutzerhandbuch
Koppelinduktivitätsmessplatz
MP CI

Werbung

Inhaltsverzeichnis
loading

Inhaltszusammenfassung für Langer MP CI

  • Seite 1 Benutzerhandbuch Koppelinduktivitätsmessplatz MP CI...
  • Seite 2: Inhaltsverzeichnis

    LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Inhalt: Seite Einführung Messung der Koppelinduktivität Ersatzschaltbilder Messaufbau 2.2.1 Testleiterkarte 2.2.1.1 Aufbau Testleiterkarte 2.2.2 Schaltung der Testleiterkarte 2.2.2.1 Steckverbinder mit TTL Signal 2.2.2.2 Steckverbinder mit symmetrischen Signalen 2.2.2.3 Common-Mode Beschaltung bei symmetrischen Signalen 2.2.2.4...
  • Seite 3: Einführung

    EMV-Technik www.langer-emv.de 1 Einführung Der Koppelinduktivitätsmessplatz „MP CI“ dient der Messung der EMV Eigenschaften von Steckverbindern und Kabeln. Mit dem Messplatz wird die Koppelinduktivität der Steckverbinder bestimmt. Damit ist es möglich den EMV Entwicklungsprozess von Steckverbindern zu beschleunigen. Praktischer Hintergrund ist, dass hochfrequente Signale durch den Steckverbinder nach außen dringen und Störaussendung erzeugen können (...
  • Seite 4 LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Der Kopplungswiderstand ( ) lässt sich in drei Frequenzabschnitte unterteilen. Abschnitt a Bild 2 beinhaltet den ohmschen Spannungsabfall über dem Schirmsystem des Steckverbinders im unteren Frequenzbereich. Abschnitt b beschreibt den Spannungsabfall an der Koppelinduktivität des Steckverbinders im mittleren Frequenzbereich.
  • Seite 5 LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 4 Schematische Darstellung des Querschnittes der Messanordnung Bild 5 Abstrakte Darstellung der induktiven Verkopplung im Steckverbinder - 5 -...
  • Seite 6: Messung Der Koppelinduktivität

    U bestimmbar. Stör Das heißt, Gleichung ( 3) ist die Basis des Messprinzips des Koppelinduktivitätmessplatzes MP CI. Der Strom I wird aus dem Mitlaufgenerator eines Spektrumanalysators eingespeist. Die Spannung U Stör wird im Steckverbinder abgegriffen und dem AV-Eingang des Spektrumanalysators zugeführt (Bild 4).
  • Seite 7 LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Koppelinduktivität in differentiellen Systemen Bei differentiellen Systemen werden zwei Modi der Verkopplung unterschieden. 1. Gleichtakt: Beschreibt die gleichmäßige Beaufschlagung der Leitungspaare um den gleichen Betrag. 2. Gegentakt: Beschreibt gegensätzliche (differentielle) Beaufschlagung der Leitungspaare. Damit wirkt sich die induzierte Störspannung direkt auf das differentielle Datensignal aus.
  • Seite 8: Messaufbau

    LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de 2.2 Messaufbau Im Bild 8 ist der Messaufbau fotografisch und in Bild 9 als Blockschaltbild dargestellt. Bild 8 Aufbau des Koppelinduktivitätsmessplatzes (Foto) Bild 9 Schematische Darstellung des Koppelinduktivitätsmessplatzes - 8 -...
  • Seite 9: Testleiterkarte

    LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Der Messaufbau besteht aus: Groundplane GND 25 Probeträger KT 102 Groundadapter GNDA (Größe richtet sich nach Messobjektgröße) 50 Ohm Durchleitungsprobe P550 Messkabel SMA-SMA 1 m Messkabel SMA-SMB 1 m Testleiterkarte Spektrumanalysator (mit Mitlaufgenerator) Leistungsverstärker (optional)
  • Seite 10: Aufbau Testleiterkarte

    LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 12 Board to Board 2.2.1.1 Aufbau Testleiterkarte Es sind Groundadapter mit vier unterschiedlich großen Öffnungen zur Aufnahme der Testleiterkarte verfügbar. Die Wahl der Größe der IC-Testleiterkarte ist abhängig von der Größe und Pinzahl des eingesetzten Steckverbinders.
  • Seite 11 LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Variante Breite / mm Länge / mm Dicke der Testleiterkarte Toleranz ohne Lötstopp-Lack / mm  0,1 mm 22,7 22,7  0,1 mm 32,7 32,7  0,1 mm 22,7 68,1  0,2 mm...
  • Seite 12: Schaltung Der Testleiterkarte

    LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de 2.2.2 Schaltung der Testleiterkarte Der komplett zusammengesteckte Steckverbinder besitzt zwei Anschlussseiten. In die in den Bildern Bild 16 und Bild 18 dargestellte obere Seite wird mit der P550 eingekoppelt. Die obere Seite wird im Folgenden als Einkoppelseite bezeichnet.
  • Seite 13: Differential-Mode Beschaltung Bei Symmetrischen Signalen

    LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Um eine störungsfreie Übertragung der Messsignale zu gewährleisten, ist eine Ausleitung des Messsignales aus der Schirmung mit einem massiv geschirmten Kabel zu realisieren. Bild 19 zeigt die Umsetzung der Schirmung mit Semi-Rigid Leitungen. Die Ground bzw. Schirmkontakte des Steckverbinders werden auf der Einkoppel- und Messseite massiv mit Ground verbunden.
  • Seite 14: Aufbau Der Testleiterkarte Einkoppelseite

    LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 19 Anschluss des Signalpärchens Common Bild 20 Anschluss des Signalpärchens Differential Mode Messung Mode Messung 4. Mit weiteren Signalpärchen kann gleich 4. Mit weiteren Signalpärchen kann gleich verfahren werden. verfahren werden.
  • Seite 15 LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 23 Verbundenes Signalpaar mit 50 Ohm Bild 24 Verbundenes Signalpaar Abschluss 3. Mit weiteren Signalpärchen kann gleich 3. Mit weiteren Signalpärchen kann gleich verfahren werden. verfahren werden. 4. Der gesamte Bereich der Schaltung wird mittels 4.
  • Seite 16: Herrichtung Von Kabelsteckerbindern Einkoppelseite Am Beispiel Eines Usb Steckverbinders

    LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de 2.2.2.7 Herrichtung von Kabelsteckerbindern Einkoppelseite am Beispiel eines USB Steckverbinders Tabelle 2 Kablesteckverbinder Common-Mode Common Mode Beschreibung Bild 27 Kabel so abschneiden, dass ca. ein Kabelstumpf von ca. 1-2cm stehen bleibt. Bild 28 Kabelmantel entfernen.
  • Seite 17 LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 29 Schirm nach außen umschlagen. Bild 30 Das zu messende Aderpärchen wird gebrückt und mit 50 Ohm abgeschlossen (Bezugkontakt ist Kabelschirm). Bild 31 Schirmen der gesamten Kabelendstückes mit Cu- Folie (Abschlusswiderstand an Cu-Folie anlöten,...
  • Seite 18 LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Tabelle 3 Kabelsteckverbinder Differential-Mode Differential Mode Bild 32 Kabel so abschneiden, dass ca. ein Kabelstumpf von ca. 1-2cm stehen bleibt. Bild 33 Kabelmantel entfernen. Bild 34 Schirm nach außen umschlagen. Das zu messenden Aderpärchen wird gebrückt.
  • Seite 19: Durchführung Der Messung

    LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de 2.3 Durchführung der Messung Da die Koppelinduktivität durch die Verteilung des Magnetfeldes im betrachteten Steckverbinder bestimmt wird, sind viele Einflussfaktoren auch bei der Messung zu berücksichtigen. Zum Beispiel unterscheiden sich die Koppelinduktivitäten von verschiedenen Signalstiften in einem Stecker. Im Sonderfall können neben dem Steckverbinder bestückte metallische Teile die Koppelinduktivität...
  • Seite 20 LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Folgender Messablauf wird vorgeschlagen: 1. Aufbau des Messplatzes wie in Bild 9 2. Einlegen der Messseite der bestückten Testleiterkarte in den Groundadapter (GNDA 01-04) und Fixierung mittels Kupfer (Cu)-Klebeband. 3. Aufstecken der Einkoppelleiterkarte bzw. des Kabelsteckers.
  • Seite 21: Bedienung Chipscan-Ci

    LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de 3 Bedienung ChipScan-CI 3.1 Grundlegende Bedienung von ChipScan-CI Die grundlegende Bedienung / Installation von ChipScan-CI ist in dessen Softwaremanual beschrieben. Starten sie ChipScan-CI Suchen und Einbinden des Messgerätes 1. MenuDevicesDevice Manager Bild 37 Bedienoberfläche Chipscan CI mit geöffnetem Menü Device...
  • Seite 22 LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de 2. Einstellen der Schnittstelle (RS232, GPIB, LAN). Klicken auf „Detect Devices“ Ihr Messgerät wird in der Liste: “Identified devices used for measurement” angezeigt Schließen Sie den „Device Manager“ Bild 38 Menü Device Manager 3.
  • Seite 23: Bedienung Chipscan-Ci Tool Coupling Inductance

    LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de 4. Normalisieren des Spektrumanalysators - Verbinden der an das Messgerät angeschlossenen Kabelenden - Klicken im „Spectrum Analyzer Manager“ auf den Button „Normalize“ 5. Aufnahme des Messwertes - Kontaktieren der P550 an der Einkoppelstelle (Schirm) der Testleiterkarte Einkoppelseite - Anschließen des Messausgangs der Testleiterkarte Messseite an den Messeingang des...
  • Seite 24 LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 40 Auswahl der auszuwertenden Messkurve im Tool „Coupling Inductance“ 7. Eingabe der Fenstergrenzen für das automatische Fitting „ Frequency Range“ Bild 41 über Eingabe der Minimum- und Maximumfrequenz Kürzel: k 8. Start der Berechnung über „Simulate“ und „Fit“...
  • Seite 25 LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 41 Ungünstige Wahl des Frequnezbereiches führt zu einem sichtbaren Fehler beim Anschmiegen der Induktivitätsgeraden Bild 42 Günstige Wahl des Frequenzbereiches 9. Die eingepassten (gefitteten) Kurven werden im „TraceManager“ gespeichert und die Koppelinduktivität im Kommentarfeld der Kurve abgelegt...
  • Seite 26: Aufbau Und Funktion

    LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de 4 Aufbau und Funktion Durchleitungsprobe P550: Anschluss Anschlusstyp Eingang des HF-Signales Bild 43 Schematiasche Darstellung der Durchleitungsprobe P550 Die P550 beinhaltet einen HF-gerechten 50 Ohm Längswiderstand für den Frequenzbereich 0 – 3 GHz...
  • Seite 27: Sicherheitshinweise

     Lassen Sie ein Produkt der Langer EMV-Technik GmbH während der Funktion nicht ohne Überwachung.  Das Produkt der Langer EMV-Technik GmbH darf nur für Anwendungen genutzt werden, für die es vorgesehen ist. Jede andere Nutzung ist nicht erlaubt.  Träger von Herzschrittmachern dürfen nicht mit dem Gerät arbeiten.
  • Seite 28: Gewährleistung

    EMV-Technik www.langer-emv.de 6 Gewährleistung Langer EMV-Technik GmbH wird jeden Fehler aufgrund fehlerhaften Materials oder fehlerhafter Herstellung während der gesetzlichen Gewährleistungsfrist beheben, entweder durch Reparatur oder mit der Lieferung von Ersatzgeräten. Die Gewährleistung gilt nur unter folgenden Bedingungen: - den Hinweisen und Anweisungen der Bedienungsanleitung wurde Folge geleistet.
  • Seite 29: Technische Daten

    LANGER DE-01728 Bannewitz MP CI mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de 7 Technische Daten Tabelle 5: Technische Daten P550 Parameter P550 Frequenzbereich 0 – 3 GHz Max. Eingangsleistung 1 W / 30 dBm Max. Eingangsstrom HF 142 mA Innenwiderstand 50 Ohm Maße (L x B x H)
  • Seite 30: Lieferumfang

    ------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- Der Lieferumfang kann abhängig vom Auftrag abweichend sein. Es ist nicht erlaubt ohne die schriftliche Zustimmung der Langer EMV-Technik GmbH dieses Dokument oder Teile davon zu kopieren, zu vervielfältigen oder elektronisch zu verarbeiten. Die Geschäftsführung der Langer EMV-Technik GmbH übernimmt keine Verbindlichkeiten für Schäden, welche aus der Nutzung dieser gedruckten Informationen resultieren.

Inhaltsverzeichnis