X-Rite i1 STUDIO Kurzanleitung Seite 7

Overview 3
B
C
Turn Rotary Disk to access desired mode:
EN
A. Ambient Light measurement mode. B. Projector measurement mode.
C. Instrument Calibration mode. D. Monitor, Chart Scanning & Spot measurement mode.
Drehen Sie die Wahlscheibe, um den gewünschten Modus zu wählen:
DE
A. Messmodus Umgebungslicht B. Messmodus Projektor
C. Modus Gerätekalibrierung D. Messmodus Monitor, Testchart und Einzelmessung
Übersicht 3 Présentation 3 Cenni generali 3
A
D
Visión general 3 Visão geral 3
概要 3
Faites tourner le disque rotatif pour accéder au mode désiré :
FR
A. Mesure de la lumière ambiante B. Mesure de projecteurs
C. Étalonnage de l'instrument D. Mesure de moniteurs, de nuanciers et mesures ponctuelles
Utilizzare il Selettore rotante per accedere alla modalità desiderata:
IT
A. Modalità di misurazione Luce ambientale. B. Modalità di misurazione Proiettore.
C. Modalità Calibrazione Strumento. D. Modalità di misurazione Monitor, Acquisizione diagramma
e Punto campione
Gire el Disco Rotativo para tener acceso al modo de medición deseado.
ES
A. Modo de medición Luz Ambiente. B. Modo de medición Proyector.
C. Modo de Calibración del Instrumento. D. Modo de medición Monitor, Escaneo de Gráfico y Color Especial.
Gire o Disco Rotatório para acessar o modo de medição desejado:
PT
A. Modo de medição da Luz Ambiente. B. Modo de medição de Projetores.
C. Modo de Calibração do Instrumento. D. Modo de medição de Monitores, Leitura de Gráficos de Prova e de Cores
Especiais.
ロータリーディスクを回し、使用するモードにアクセスします。
JP
A. 環境光の測定モード B. プロジェクタの測定モード
C. 装置のキャリブレーションモード D. モニタ、チャートのスキャンおよびスポット測定モード
转动转盘选择所需模式：
CS
A. 环境光测量模式。B. 投影仪测量模式。
C. 仪器校准模式。D. 显示器、图表扫描和专色测量模式。
轉動轉盤選擇所需模式：
CT
A. 環境光測量模式。B. 投影儀測量模式。
C. 儀器校準模式。D. 顯示器、圖資料表掃描和專色測量模式。
회전 디스크를 돌려 원하는 모드에 액세스합니다.
KO
A. 환경 조명 측정 모드. B. 프로젝터 측정 모드.
C. 장치 교정 모드. D. 모니터, 차트 스캐닝 및 스팟 측정 모드.
С помощью поворотного селектора выберите требуемый режим:
RU
A. Режим измерения окружающего освещения. B. Режим измерения проецируемого изображения.
C. Режим калибровки инструмента. D. Режим измерений монитора, сканирования мишени и точечных измерений.
Обзор 3
概览 3 概覽 3 개요 3