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Anwendungsbeispiele
Messung der Laufzeitverzögerung
Sie vermuten, daß das Speicher-Timing in einem Mikroprozessor-
Schaltkreis nicht optimal ist. Richten Sie das Oszilloskop so ein, daß
sich die Laufzeitverzögerung zwischen dem chip-select Signal und
den ausgegebenen Daten des Speicherbausteins messen läßt.
CS
Daten
58
CH 1 CH 2
Digitalspeicher-Oszilloskop der Serie TDS1000/2000
Daten
CS
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