Spezifikationen - Apogee Instruments Ms-100 Benutzerhandbuch

SPEZIFIKATIONEN

Sensor
Wellenlängenbereich
Wellenlänge
Dateninkrement
Spektrale Bandbreite
Reproduzierbarkeit
der Wellenlänge
Messbereich
Beleuchtungsstärke-
Genauigkeit
Farbgenauigkeit
Wiederholbarkeit der
Farbe
CCT-Genauigkeit
CRI-Genauigkeit @ Ra
Streulicht
Integrationszeitbereic
h
Digitale Auflösung
Erfassungsfunktion
Betriebsart
Integrationsmodus
Messmodi
Messkapazitäten
Ungefähr 12 nm (halbe Bandbreite)
PPFD: 0,1 bis 3.500 µmol mˉ² sˉ¹; Lux: 5 bis 190.000 lx
Lichtart A @ 2.856 K bei 20.000 lx
Standalone-Modus/Bluetooth-Modus/USB-Modus (PC-Anschluss)
3. PFD-UV, PFD-B, PFD-G, PFD-R
7. CIE 1931 x & y, CIE 1976 u' & v'
1. Beleuchtungsstärke (LUX)/Kerzenfuß (fc)
2. Korrelierte Farbtemperatur (CCT)
3. CIE-Chromatizitätskoordinaten
4. Dominante Wellenlänge (λd)
5. Farbtreueindex (CFI, Ra)/R1 bis R15
6. Photosynthetisch aktive Strahlung (PAR)
MS-100
SPECTRUM
CMOS-Linear-Bildsensor
380 bis 780 nm
1 nm
± 1 nm *1
± 0,0025 in CIE 1931 x, y
*2
± 0,0005 in CIE 1931 x, y
± 1.5 %
Maximal -25 dB. *3
6 bis 1.000 ms
16 Bits
FEATURE
Einmalig
Auto
1. Spektralgrafik
2. PPFD, ePPFD, YPFD, TPFD
4. PFD-FR, FR F, PSA, iPPE
5. CFI, CRI, CCT, Lux
6. fc, R F-R R, λp, λd
a. CIE 1931 x, y Koordinaten
b. CIE 1976 u', v' Koordinaten
c. CIE 1931 XYZ-Wert
a. PPFD (400 bis 700 nm) mˉ² sˉ¹
b. ePPFD (400 bis 750 nm) mˉ² sˉ¹
c. PPF-UV (380 bis 400 nm) mˉ² sˉ¹
18
± 5 %
± 2 %