Zur Beurteilung der EMV-Eigenschaften von integrierten Schaltkreisen (ICs) wurde die Messmethode mit direkter 1 Ohm /150 Ohm Kopplung, Messung der leitungsgeführten Aussendung von IC erarbeitet. Die Messgrößen für das S603 / S705 Set sind der über die IC-Pins abgegebene HF Strom (S603) oder die abgegebene HF-Spannung (S750).
Tastkopfes an die Testleiterkarte und an ein Messgerät (Spektrumanalysator / Messempfänger). Der Tastkopf S603 ist ein HF-Strommesser. Am Test-IC kann der Summenstrom mehrerer Massepins oder der Einzelstrom eines Massepins gemessen werden. Der HF-Strom wird durch den 1 Ohm Shunt geleitet Er erzeugt am 1 Ohm Widerstand des Shuntes eine äquivalente Spannung (Messspannung).
Damit kann im Allgemeinen der konstante Korrekturfaktor K = +6 dB/Ohm verwendet werden. Die Korrekturfunktion K(f) des Tastkopfes S603 (Gl 2) ermöglicht eine genaue Korrektur der Messwerte im gesamten Frequenzbereich. Mit der folgenden zugeschnittenen Größengleichung wird der gemessene HF-Strom in dBµA direkt aus der gemessen...
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S603/S750 mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 4 - Frequenzgang des Korrekturfunktion S603 K(f) Die Korrektur K(f) kann während der Messung mit der Software für Spektrumanalysatoren „ChipScan-ESA“ automatisch ausgeführt werden. In der Software ChipScan-ESA ist die Korrekturfunktion S603 K(f) enthalten. - 6 -...
LANGER DE-01728 Bannewitz S603/S750 mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de 2.2 S750 150 Ohm Tastkopf 2.2.1 Aufbau S750 Bild 5 - Anschlussbeschreibung Probe S750 Im geschlossenen Aluminiumgehäuse befindet sich das 150 Ohm Koppelnetzwerk nach Norm IEC 61967-4. Die beiden koaxialen SMA-Steckverbindungen dienen zum Anschluss des Tastkopfes an die Testleiterkarte und dem Anschluss eines Messgerätes...
LANGER DE-01728 Bannewitz S603/S750 mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de 2.2.2 Eigenschaften Bild 6 - Frequenzgang der Probe S750 bis 3GHz Bild 7 - Ersatzschaltbild S750 2.2.1 Verwendung des Korrekturfaktors Mit dem Korrekturfaktor wird aus der Ausgangsspannung des Tastkopfes die Spannung berechnet. Die Übertragungsfunktion Bild 6, Gl 3 μ...
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LANGER DE-01728 Bannewitz S603/S750 mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 8 – Frequenzgang des Korrekturfaktors S750 K(f) Die Korrektur kann während der Messung mit der Software für Spektrumanalysatoren „ChipScan-ESA“ automatisch ausgeführt werden. In der Software ChipScan-ESA ist die Korrekturfunktion S750 K(f) enthalten.
Systemaufbau Bild 9 - Probe S603 und S750 angeschlossen am Test-IC Im Bild 9 ist der Aufbau des IC-Testsystems mit den Tastköpfen S603/ S750 Set dargestellt. Mit den Tastköpfen werden die einzelnen Pins des Test-ICs direkt belastet. Je nach Art der Pins (I/O, Vss) werden die entsprechenden Koppelnetzwerke nach IEC 61967- 4 angeschlossen.
S603/S750 mail@langer-emv.de EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 10: Verwendung S603 / S750 2.2.2 Aufbau der Testleiterkarte: Das Layout der Testleiterkarte wird nach „EN 61967-4, 7.2 Layout der Prüfleiterplatte“ aufgebaut. Für den Anschluss der Tastköpfe werden SMA female Buchsen für senkrechte Leiterkartenmontage verwendet...
Dieses Produkt richtet sich nach den Anforderungen der folgenden Bestimmungen der europäischen Union: 2004/108/EG (EMV-Richtlinie) und 2006/95/EG (Niederspannungsrichtline). Wenn Sie ein Produkt der Langer EMV-Technik GmbH nutzen, bitte beachten Sie die folgenden Sicherheitshinweise, um sich selbst gegen elektrischen Schlag oder das Risiko einer Verletzung zu schützen.
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