LANGER EMV-Technik P600 Bedienungsanleitung
Verwandte Anleitungen für LANGER EMV-Technik P600
Inhaltszusammenfassung für LANGER EMV-Technik P600
- Seite 1 Bedienungsanleitung P600 / P750 set Leitungsgebundene HF-Messung - Original - Copyright © Juli 2015 LANGER EMV-Technik GmbH 2018.10.08 Bedienungsanleitung P600_P750 Final...
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Seite 2: Inhaltsverzeichnis
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Inhalt: Seite 1 Sicherheitshinweise ...................... 3 2 Lieferumfang ........................4 3 Technische Parameter ....................5 Probe P602 HF-Strommesser 0.1 Ohm ................5 Probe P603 HF-Strommesser 1 Ohm .................. 6 Probe P622 HF- Strommesser 0.1 Ohm aktiv ..............7 Probe P623 HF- Strommesser 1 Ohm aktiv ................. -
Seite 3: Sicherheitshinweise
Verträglichkeit (EMV) qualifiziert und berechtigt sind und diese Arbeiten ausführen dürfen. Beachten Sie bei Verwendung eines Produktes der Firma Langer EMV-Technik GmbH die folgenden Sicherheitshinweise, um sich vor Stromschlägen oder Verletzungsgefahr zu schützen und die verwendeten Geräte und den Test-IC vor Zerstörung zu schützen. -
Seite 4: Lieferumfang
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 2 Lieferumfang Pos. Bezeichnung Stck. HF-Strommesser 0.1 Ohm P602 HF-Strommesser 1 Ohm P603 HF- Strommesser 0.1 Ohm aktiv P622 HF- Strommesser 1 Ohm aktiv P623 HF-Spannungsmesser 150 Ohm P750 Steckernetzteil... -
Seite 5: Technische Parameter
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 3 Technische Parameter 3.1 Probe P602 HF-Strommesser 0.1 Ohm 0,1 Ω Shunt -26 dBΩ Stromkorrekturfaktor R Max. Verlustleistung Shunt 2,5 W Koppelkapazität 8 µF Induktivität des HF-Eingangs 1 nH 50 Ω (SMB) HF-Messausgang 0,2 kHz –... -
Seite 6: Probe P603 Hf-Strommesser 1 Ohm
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 3.2 Probe P603 HF-Strommesser 1 Ohm 1 Ω Shunt Übertragungsfaktor V -6 dB -6 dBΩ Stromkorrekturfaktor R Max. Verlustleistung Shunt 2,5 W Koppelkapazität 8 µF Induktivität des HF-Eingangs 1 nH 50 Ω... -
Seite 7: Probe P622 Hf- Strommesser 0.1 Ohm Aktiv
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 3.3 Probe P622 HF-Strommesser 0.1 Ohm aktiv 0,1 Ω Shunt Verstärkung 20 dB 0 dBΩ Stromkorrekturfaktor R Max. Verlustleistung Shunt 2,5 W Koppelkapazität 8 µF Induktivität des HF-Eingangs 1 nH 50 Ω... -
Seite 8: Probe P623 Hf- Strommesser 1 Ohm Aktiv
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 3.4 Probe P623 HF-Strommesser 1 Ohm aktiv 1 Ω Shunt Verstärkung 20 dB 20 dBΩ Stromkorrekturfaktor R Max. Verlustleistung Shunt 2,5 W Koppelkapazität 8 µF Induktivität des HF-Eingangs 1 nH 50 Ω... -
Seite 9: Probe P750 Hf-Spannungsmesser 150 Ohm
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 3.5 Probe P750 HF-Spannungsmesser 150 Ohm Übertragungsfaktor V -15,2 dB 50 Ω (SMB) HF-Messausgang 150 Ω Eingangswiderstand Max. Eingangsspannung HF 3,5 V Max. Eingangsspannung DC 50 V Frequenzbereich 150 kHz bis 3 GHz... -
Seite 10: Bestimmungsgemäße Verwendung
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 4 Bestimmungsgemäße Verwendung Die Probes P602, P603, P622, P623 und P750 sind für die Messung der leitungsgeführten Aussendung integrierter Schaltungen (ICs) mit 1 Ohm/150 Ohm-Koppelnetzwerk entwickelt (Bild 7). Die Probe P603 entspricht dem 1 Ohm HF-Stromtastkopf. - Seite 11 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 8: Probe P603, Strommessung mit DC-Entkopplung an zusammengefassten Vdd-Pins In der Probe P603 ist als Gleichstromsperre ein 8 µF Kondensator integriert. Er übernimmt in der Schaltung Bild 8 und Bild 10 die Funktion des Stützkondensators.
- Seite 12 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 10: Probe P603, Strommessung an einem einzelnen Vdd-Pin Bild 11: Probe P750, Spannungsmessung an einem unter Funktion stehenden Signalpin - 12 / 40 -...
- Seite 13 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 12: Probe P603, Strommessung an einem unter Funktion stehenden Signalpin Für die Strommessung an Signalpins kann durch den externen Kondensator C die Belastung des Signalpins, die durch die niedrige Impedanz der Probe (1 Ohm) hervorgerufen wird, vermindert werden (Bild 12).
- Seite 14 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bei der Spannungsmessung am Vdd-Pin wird davon ausgegangen das IC-intern eine Verbindung zu anderen gespeisten Vdd-Pins vorliegt (Bild 13). Mit dieser Messung können die Spannungseinbrüche am IC-internen Vdd-Netz gemessen werden.
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Seite 15: Probe P602 Hf-Strommesser 0.1 Ohm
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 5 Probe P602 HF-Strommesser 0.1 Ohm 5.1 Allgemeine Beschreibung Die Probe P602 ist ein HF-Stromtastkopf zum Messen von leitungsgebundenen HF-Strömen an IC-Pins. Die P602 ist für das Messen an Versorgungs- (Vdd / Vss) und Signalpins vorgesehen. Die Messung erfolgt mit einem 0,1-Ohm-Shunt. - Seite 16 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Probe P602 besitzt Inneren einen 0,1-Ohm-Stromtastkopf. Eingang Stromtastkopfes ist mit dem Pinkontakt der Probe verbunden (Bild 18). Der Ausgang des Stromtastkopfes ist mit dem 50 Ohm SMB-Anschluss auf der Rückseite der Probe verbunden.
- Seite 17 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 20: Probe P602 Aufbau der Filter von Vdd- / Vss- und Signalpins Der Aufbau der Filter, die auf der Unterseite (Bottom) der Testleiterkarte angeordnet sind, sind für Vdd- / Vss- und Signalpins in Bild 20 dargestellt. Eine Anleitung zum Aufbau der Testleiterkarte befindet sich im Dokument „Anleitung IC-Test“...
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Seite 18: Probe P603 Hf-Strommesser 1 Ohm
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 6 Probe P603 HF-Strommesser 1 Ohm 6.1 Allgemeine Beschreibung Die Probe P603 ist ein HF-Strommesser zum Messen von leitungsgebundenen HF-Strömen an IC-Pins. Die P603 ist für das Messen an Versorgungs- (Vdd / Vss) und Signalpins vorgesehen. Die Messung erfolgt mit einem 1-Ohm-Shunt. - Seite 19 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 23: Innerer Aufbau der Probe P603 Bild 23 zeigt das Ersatzschaltbild der Probe P603. Der interne Stromtastkopf besteht aus einem 1-Ohm-Shunt, einem 49-Ohm-Anpasswiderstand und einem 8-µF-Koppelkondensator. Der Kondensator C (DC-Entkopplung) bewirkt eine Gleichstromtrennung zwischen dem Test-IC und der Probe.
- Seite 20 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 24: Probe P603 Aufbau der Filter von Vdd- / Vss- und Signalpins Der Aufbau der Filter, die auf der Unterseite (Bottom) der Testleiterkarte angeordnet sind, sind für Vdd- / Vss- und Signalpins in Bild 24 dargestellt. Eine Anleitung zum Aufbau der Testleiterkarte befindet sich im Dokument „Anleitung IC-Test“...
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Seite 21: Probe P622 Hf- Strommesser 0.1 Ohm Aktiv
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 7 Probe P622 HF- Strommesser 0.1 Ohm aktiv 7.1 Allgemeine Beschreibung Die Probe P622 ist ein HF-Strommesser zum Messen von leitungsgebundenen HF-Strömen an IC-Pins. Die P622 ist für das Messen an Versorgungs- (Vdd / Vss) und Signalpins vorgesehen. Die Messung erfolgt mit einem 0,1-Ohm-Shunt. - Seite 22 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 27: Innerer Aufbau der Probe P622 Bild 27 zeigt das Ersatzschaltbild der Probe P622. Der interne Stromtastkopf besteht aus einem 0.1 Ohm Shunt, einem 49-Ohm-Anpasswiderstand und einem 8 µF Koppelkondensator.
- Seite 23 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 28: Probe P622 Aufbau der Filter von Vdd- / Vss- und Signalpins Der Aufbau der Filter, die auf der Unterseite (Bottom) der Testleiterkarte angeordnet sind, sind für Vdd- / Vss- und Signalpins in Bild 28 dargestellt. Eine Anleitung zum Aufbau der Testleiterkarte befindet sich im Dokument „Anleitung IC-Test“...
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Seite 24: Probe P623 Hf- Strommesser 1 Ohm Aktiv
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 8 Probe P623 HF- Strommesser 1 Ohm aktiv 8.1 Allgemeine Beschreibung Die Probe P623 ist ein HF-Strommesser zum Messen von leitungsgebundenen HF-Strömen an IC-Pins. Die P623 ist für das Messen an Versorgungs- (Vdd / Vss) und Signalpins vorgesehen. Die Messung erfolgt mit einem 1 Ohm Shunt. - Seite 25 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 31: Innerer Aufbau der Probe P623 Bild 31 zeigt das Ersatzschaltbild der Probe P623. Der interne Stromtastkopf besteht aus einem 1-Ohm-Shunt, einem 49-Ohm-Anpasswiderstand und einem 8 µF Koppelkondensator. Der Kondensator C (DC-Entkopplung) bewirkt eine Gleichstromtrennung zwischen dem Test-IC und der Probe.
- Seite 26 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 32: Probe P623 Aufbau der Filter von Vdd- / Vss- und Signalpins Der Aufbau der Filter, die auf der Unterseite (Bottom) der Testleiterkarte angeordnet werden, sind für Vdd- / Vss- und Signalpins in Bild 32 dargestellt. Eine Anleitung zum Aufbau der Testleiterkarte befindet sich im Dokument „Anleitung IC-Test“...
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Seite 27: Probe P750 Hf-Spannungsmesser 150 Ohm
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 9 Probe P750 HF-Spannungsmesser 150 Ohm 9.1 Beschreibung Probe P750 HF-Spannungsmesser Messen leitungsgebundenen HF-Spannungen an IC-Pins nach DIN EN 61967-4. Die P750 ist für das Messen an Versorgungs- (Vdd / Vss) und Signalpins vorgesehen. Die Messung erfolgt mit einem 150 Ohm Spannungsteiler. - Seite 28 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 35: Interner Aufbau der Probe P750 Bild 35 zeigt das Ersatzschaltbild der Probe P750. Das interne Anpassungsnetzwerk besteht aus einem 120-Ohm – 51-Ohm-Spannungsteiler und einem 6,8-nF-Koppelkondensator. Für die Messung muss der Pinkontakt der Probe mit dem entsprechenden Pin des Test-ICs kontaktiert werden.
- Seite 29 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 36: Probe P750, Aufbau der Filter von Vdd- / Vss- und Signalpins Der Aufbau der Filter, die auf der Unterseite (Bottom) der Testleiterkarte angeordnet werden, sind für Vdd- / Vss- und Signalpins in Bild 36 dargestellt. Eine Anleitung zum Aufbau der Testleiterkarte befindet sich im Dokument „Anleitung IC-Test“...
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Seite 30: Kontakterkennung
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 10 Kontakterkennung Die Kontakterkennung dient der automatischen Erkennung der vorhandenen galvanischen Verbindung der Probespitze und des zu kontaktierenden IC-Pins. Bild 37: Aufbau der Probe P750 mit Taster zur Kontakterkennung Bei Betätigung des Tasters zur Kontakterkennung wird die Probespitze auf ein negatives Potential von -5 V vorgespannt. -
Seite 31: Messanordnung
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 11 Messanordnung 11.1 Durchführung der Messung Die Messanordnung zur Messung der leitungsgeführten Aussendungen integrierter Schaltungen (ICs) ist in Bild 38 dargestellt. Der Test-IC ist auf der Testleiterkarte montiert. Die Testleiterkarte wird in den entsprechenden Groundadapter z.B. - Seite 32 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 38: Messanordnung zur Messung der leitungsgeführten Aussendungen integrierter Schaltungen (IC) mit dem IC- Testsystem ICE1. Mit * gekennzeichnete Komponenten sind nicht im Lieferumfang des Probe-Sets „Leitungsgebundene HF-Einkopplung nach DIN EN 61967-4 “ enthalten.
- Seite 33 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 39: Messanordnung mit der Probe P603 und dem IC-Testsystem ICE1 (ohne Control Unit und Mikroskopkamera). Bild 40: Pinkontakt visualisiert mit der Mikroskopkamera. - 33 / 40 -...
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Seite 34: Verwendung Der Software Chipscan-Esa
DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de 11.2 Verwendung der Software ChipScan-ESA Der Spektrumanalysator wird über „Devices/Devices Manager/Detected Devices“ automatisch über die verwendete Schnittstelle gesucht und mit dem PC verbunden (Bild 41). Bild 41:Verbinden des Spektrumanalysators mit dem PC. - Seite 35 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Das entspricht im logarithmischen einer Subtraktion von 20 Log ω. Die Korrekturkurve (-20 Log ω) ist in der Liste „Corrections“ des „Trace Managers“ vorhanden. Zur Auswahl für die Korrektur wird im „Spectrum Analyzer Manager“ unter „Correction“ der Button „Select“...
- Seite 36 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 44: Laden der Korrekturkurve „K750“ in den „Corrections Selector“. Wenn mit der Probe P603 gemessen wird, wird im „Corrections Selector“ die Korrekturkurve „K603“ geladen. Im „Spectrum Analyzer Manager“ wird im Feld „Correction“ die Box „Enabled“ mit dem Mauszeiger ①...
- Seite 37 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 45: Messung mit dem HF-Strommesser P603 unter Verwendung der Korrekturkurve „K603“. Unter „Annotation“ wird die Kurvennummer „Curve“ automatisch weitergezählt („Curve 3“) unter „Comment“ kann im entsprechenden Freitextfeld das Messprotokoll geführt werden.
- Seite 38 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 46: Korrektur nach der Messung: Kopieren von „K750“ aus der Liste „Corrections“ in die Liste „Traces“. Im „Trace Manager“ in der Liste „Traces“ Bild 47 werden die Kurve „Curve 1“ (U ) und die Kurve „K750“...
- Seite 39 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de P600 / P750 set EMV-Technik www.langer-emv.de Bild 48: Korrektur nach der Messung: Ergebnis der Addition U + K750. Die Bedienungsanleitungen für die jeweiligen Geräte, welche nicht zum Lieferumfang dazugehören, sind in folgender Tabelle aufgeführt: Aufgabe / Gerät Bedienungsanleitung ...
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Seite 40: Gewährleistung
Die Gewährleistung verfällt, wenn: - am Produkt eine nicht autorisierte Reparatur vorgenommen wurde, - das Produkt verändert wurde, - das Produkt nicht bestimmungsgemäß verwendet wurde. Es ist nicht erlaubt, ohne die schriftliche Zustimmung der Langer EMV-Technik GmbH, dieses Dokument oder Teile davon kopieren, vervielfältigen...