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6.3.25 SPS
Setpoint status. Schaltfunktions-Status. Siehe Kapitel 5.1
Schaltfunktionsparameter (PArA SP), ! 20.
S: SPS<CR>[<LF>]
E: <ACK><CR><LF>
S: <ENQ>
E: a,b,c,d,e,f<CR><LF>
Parameter
Bedeutung
a
Status von Schaltfunktion 1
0 = Aus
1 = Ein
b
Status von Schaltfunktion 2
(siehe oben)
c
Status von Schaltfunktion 3
(siehe oben)
d
Status von Schaltfunktion 4
(siehe oben)
e
Status von Schaltfunktion 5
(siehe oben)
f
Status von Schaltfunktion 6
(siehe oben)
6.3.26 TAD
Test A/D converter. Testet den A/D-Wandler. Siehe
Kapitel 5.4.10 A/D-Wandler Signal (Ad-S), ! 28 und
Kapitel 5.4.11 A/D-Wandler ID (Ad-i), ! 28.
S: TAD<CR>[<LF>]
E: <ACK><CR><LF>
S: <ENQ>
E: ±a.aaaa,±b.bbbb,±c.cccc,±d.dddd,±e.eeee,±f.ffff
<CR><LF>
Parameter
Bedeutung
±a.aaaa
ADC Kanal 1. Messwert von Trans-
mitter 1 in Volt.
0.0000...+11.0000
±b.bbbb
ADC Kanal 2. Messwert von Trans-
mitter 2 in Volt.
0.0000...+11.0000
±c.cccc
ADC Kanal 3. Messwert von Trans-
mitter 3 in Volt.
0.0000...+11.0000
Parameter
Bedeutung
±d.dddd
ADC Kanal 4. Identifikation Trans-
mitter 1 in Volt.
0.0000...+5.0000
±e.eeee
ADC Kanal 5. Identifikation Trans-
mitter 2 in Volt.
0.0000...+5.0000
±f.ffff
ADC Kanal 6. Identifikation Trans-
mitter 3 in Volt.
0.0000...+5.0000
6.3.27 TDI
Test display. Testet das Display. Siehe Kapitel 5.4.9 Dis-
play-Test (di-t), ! 28.
S: TDI[,a]<CR>[<LF>]
E: <ACK><CR><LF>
S: <ENQ>
E: a<CR><LF>
Parameter
Bedeutung
a
Test-Status
0 = Aus
1 = Ein
6.3.28 TEE
Test EEPROM. Testet das EEPROM. Siehe Kapitel 5.4.8
EEPROM-Test (EE-t), ! 28.
EEPROM-Lebensdauer.
Eine sehr grosse Anzahl von Schreibvorgän-
gen reduziert die EEPROM-Lebensdauer.
Wiederholen Sie den EEPROM-Test nicht
unnötig oft (z.B. in Programmschleifen).
S: TEE<CR>[<LF>]
E: <ACK><CR><LF>
S: <ENQ>
E: aaaa<CR><LF>
Das Steuerzeichen <ENQ> startet den Test. Der Test
dauert etwa eine Sekunde lang.
VORSICHT
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