Dank der Kombination der modernsten Fertigungstechniken mit zukunftsweisender Mikroprozessorsoftware stellt der DCA50e eine echte Innovation für Ingenieure, Techniker, Hobbybastler und Studenten dar. Der DCA50e ist die erweiterte Version des ursprünglichen DCA50-Instruments. Zu den Leistungserweiterungen gehören: schnellere Analyse, deutlicher Meldungen und Messungen des vorwärts gerichteten Spannungsabfalls von Halbleitern.
Betriebsparameter außerhalb der in den technischen Daten festgelegten Grenzwerte auf der Rückseite diese Broschüre liegen. Wenn die zu testende Komponente nicht vom DCA50e unterstützt wird oder die technischen Daten der Komponente außerhalb der für das Gerät gültigen Grenzwerte liegen, zeigt der DCA50e eventuell Meßwerte für 1 oder mehrere PN-Abzweigungen...
ü t z l i c h , die in zahlreichen, unterschiedlichen Kombinationen aus gemeinsamer Kathode, gemeinsamer Anode und seriellen Typen zur Verfügung stehen. Der DCA50e identifiziert korrekt jedes Diodenpaar in einem Paket mit drei Klemmen. Dies kann simuliert werden, indem zwei Dioden in einer Dreiklemmenkonfiguration miteinander verbunden und dann die drei Testklemmen an das Netzwerk angeschlossen werden.
Seite 5
Abbildung ab. In diesem Beispiel hat der DCA50e festgestellt, daß die rote Klemme an das Gate, die grüne Klemme an die Senke und die blaue an den Drain angeschlossen ist. Er hat den MOS-FET außerdem als ein N-Kanal-Gerät identifiziert.
Seite 6
Herstellerangabe auf einen anderen Kollektorstrom beziehen kann. Die angezeigte Verstärkung ist auf jeden Fall genau für den Kollektorstrom, den der DCA50e in den Transistor speist. Es ist daher sehr nützlich beim Vergleich der Verstärkungsfaktoren von unterschiedlichen Transistoren eines ähnlichen Typs.
Transistoren kann diese Verstärkung jedoch sehr gering oder nicht vorhanden sein. Unter diesen Umständen ist der DCA50e eventuell nur in der Lage, eine der beiden Diodenabzweigungen im zu testenden Gerät zu identifizieren. In diesem Fall werden Meldungen wie die hier dargestellten ausgegeben. Wenn beide Diodenabzweigungen im Transistor erkannt werden, erscheinen am Display abwechselnd die PN-Abzweigungen als Hinweis auf das Vorhandensein beider Abzweigungen.
Komponenten getestet werden. Aufgrund der Vielzahl der erforderlichen Betriebsbedingungen kann nicht garantiert werden, daß für alle Komponenten Ergebnisse erzielt werden können. Der DCA50e wurde für den größten Teil der unterstützten Komponententypen optimiert. Hergestellt in Großbritannien. Peak Electronic Design Ltd.