Daten
LF korr. (die Bezeichnung
hängt von dem in den
Einstellungen
eingestellten Profil ab)
Kap. mess.
Tabelle 20-6: Manuelle Tan Delta-Prüfung – Messdaten (Imp. Z)
Daten
Z Phase
Z abs
Tabelle 20-7: Manuelle Tan Delta-Prüfung – Messdaten (Leistung Q, Leistung S)
Daten
Blindleistung
Scheinleistung
Tabelle 20-8: Manuelle Tan Delta-Prüfung – Messdaten (Cp, Rp)
Daten
Cp
Rp
Tabelle 20-9: Manuelle Tan Delta-Prüfung – Messdaten (Cp, Gütefaktor)
Daten
Cp
Gütefaktor
Tabelle 20-10: Manuelle Tan Delta-Prüfung – Messdaten (Ls, Rs)
Daten
Ls
Rs
Tabelle 20-11: Manuelle Tan Delta-Prüfung – Messdaten (Ls, Gütefaktor)
Daten
Ls
Gütefaktor
OMICRON ELECTRONICS GMBH
Beschreibung
Korrigierter gemessener Leistungsfaktor
Gemessene Kapazität
Beschreibung
Phase der gemessenen Impedanz
Betrag der gemessenen Impedanz
Beschreibung
Gemessene Blindleistung Q
Gemessene Scheinleistung S
Beschreibung
Gemessene Parallelkapazität
Gemessener Parallelwiderstand
Beschreibung
Gemessene Parallelkapazität
Gemessener Gütefaktor
Beschreibung
Gemessene Reiheninduktivität
Gemessener Reihenwiderstand
Beschreibung
Gemessene Reiheninduktivität
Gemessener Gütefaktor
Optionale manuelle Prüfungen
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