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FLIR Systems EXTECH BCAM Benutzerhandbuch Seite 176

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插座氧化
插座氧化
插座氧化
插座氧化
有关插座氧化的大致信息
有关插座氧化的大致信息
有关插座氧化的大致信息
有关插座氧化的大致信息
根据插座的类型和安装环境,氧化可能发
生在插座的接触表面。当插座带有负载
时,这些氧化物可以导致局部的电阻增
加,这在红外图像上表现为局的温升。
请记住
请记住
请记住
请记住
不同厂家生产的插座结构可能有很大的不
同。因此,不同的插座故障可能在红外图
像上表现出相同的特征。
局部的温升还可能是由于电线和插座之间
的接触不良或者负载的差异所导致。
示例图像
示例图像
示例图像
示例图像
下图显示了一系列的保险丝,其中的一根
在与保险丝支架的接触面上存在温度升高
的现象。由于保险丝支架上的裸露金属,
温升并没有体现在这个部,而是体现在保
险丝的陶瓷部分。
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• 热像仪序列号
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