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E
SELBSTTESTVERFAHREN
ASTEROIDS besitzt ein eingebautes Selbsttestverfahren,
das die Schalt- und Steuerkreise testet.
Zur DurchfUhrung des Selbsttestverfahrens gehen Sie bitte
nach folgender Tabelle vor:
Test-
anweisung
1. Selbst-
testknopf
auf ON
{siehe
Abb. 4)
Ergebnis bei ein-
wandfreiem Gerät
Monitor-Anzeige
gemäß Abb. 5
Nachdruck verboten
Ergebnis bei nicht einwandfreiem
Gerät
Ein RAM-Ausfall wird durch eine
Folge von 1 - 6 Tönen angezeigt. Bei
einem einwandfreien RAM-Chip ertönt
ein Brummton. Die Folge endet beim
letzten defekten RAM-Chip. Um die
Folge wieder zu starten, drücken Sie
den Resetknopf auf dem Geräte-PCB
oder schalten Sie den Selbsttestknopf
auf OFF und dann wieder auf ON.
Identifizieren Sie den defekten RAM-
Chip gemäß unten
stehende~
Tabelle.
Beispiel: Drei Brummtöne und dann
ein tieferer Brummton zeigen den
Ausfall von RAM-Chip R4 an.
Ton-Nr.
l
2
3
4
5
6
RAM-Chip-Position
D2
E2
M4
R4
N4
P4
ROM/PROM Ausfall wird durch 2 Zahlen-
reihen an der linken oberen Bild-
schirmecke angezeigt. Die Nummer in
der 1. Reihe zeigt das defekte
ROM/PROM-Chip. Identifizieren Sie das
defekte
ROM/PROM gemäß der nach-
stehenden Tabelle.
Die Nummer in der 2. Reihe zeigt das
ausgefallene Daten-Bit des defekten
ROMs/PROMs. Identifizieren Sie das
ausgefallene Bit lt. der nachstehen-
den Tabelle. Falls
meh~
als ein Bit
ausgefallen ist, bestehen die ange-
zeigte(n) Nummer(n) aus hexadezimalen
Kombinationen der unten angezeigten
Nummern.
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