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Die Anzeigeoption „TOP-Ansicht" ermöglicht bei einem
Phased Array-Prüfkopf ein fortlaufendes Scannen
im Modus ZEITGESTEUERT bzw. eine durch die
Speicherkapazität begrenzte Aufnahme beim Scannen
im Modus WEGAUFNAHME, wenn ein Prüfkopf mit
Encoder verwendet wird. Die TOP-Ansicht repräsentiert
die Projektion von Reflektoren eines relevanten Bereichs
von der A- und B-Blende auf eine sichtbare Ebene.
Die TOP-Ansicht wird durch Einstellen der Funktion
ANSICHTSMODUS auf TOP im Untermenü ANSICHT
aktiviert und entsteht aus Daten, die aus dem von der
A- und B-Blende erfassten Bereich eines Sektor- oder
Linear-Scans erfasst werden. Das Standbild einer
TOP-Ansicht bietet Zugang zu zwischengespeicherten
TOF- und Echoamplitudendaten. TOF-Werte und
Amplituden-Prozentwerte werden in der TOP-Ansicht
durch vom Benutzer wählbare Farbpaletten dargestellt.
Die zwischengespeicherten Daten einer TOP-Ansicht
(TOF- und Amplitudendaten aus der A- und B-Blende)
können als Teil eines Datensatzes gespeichert werden.
HINWEIS: Während des Scans werden Daten für die
TOP-Ansicht in den Puffer des Geräts eingelesen.
Der Puffer dient nur als temporärer Speicher. Damit
die im Puffer befindlichen Daten nicht verloren
gehen, MÜSSEN sie in einem Datensatz gespeichert
werden. Im Modus ZEITGESTEUERT werden
die zwischengespeicherten Daten automatisch
überschrieben, sobald der Puffer voll ist. Im Modus
WEGAUFNAHME wird der Scan automatisch
gestoppt, sobald der Puffer voll ist.
In diesem Kapitel ist beschrieben, wie Sie das Phasor
XS für den Modus TOP-Ansicht vorbereiten und mit
diesem arbeiten. Im Einzelnen werden folgende Verfahren
beschrieben:
•
Konfigurieren der normalen Phased Array-
Einstellungen (gewünschte B-/SEKTOR-BILD-
Ansicht) für die Umsetzung der gewünschten TOP-
Ansicht
(Abschnitt
8.1.1)
•
Konfigurieren der TOP-Ansicht während
eines kontinuierlichen Scans (siehe Modus
ZEITGESTEUERT in
•
Konfigurieren der TOP-Ansicht während eines
Scans im Modus WEGAUFN
•
Erfassen von Daten für eine TOP-Ansicht während
eines kontinuierlichen Scans oder eines Scans im
Modus WEGAUFN
(Abschnitt
•
Einfrieren der TOP-Ansicht und Navigieren durch
die gepufferten Daten
Benutzerhandbuch PHASOR XS
8. Arbeiten in der TOP-Ansicht (Phasor XS)
Abschnitt
8.1.2)
(Abschnitt
8.1.3)
8.2)
(Abschnitt
8.3)
8. Arbeiten in der TOP-Ansicht (Phasor XS)
•
Speichern der Daten der TOP-Ansicht in einem
Datensatz
(Abschnitt
•
Durchführen einer typischen Datenerfassung im
Modus WEGAUFNAHME durch Nacharbeiten
einer Zusammenfassung der Arbeitsschritte
(Abschnitt
8.5)
HINWEIS: Um zu vermeiden, dass Daten einer
TOP-Ansicht versehentlich gelöscht werden, bevor
sie in einem Datensatz gespeichert oder anderweitig
ausgewertet werden können, lesen Sie bitte die
verschiedenen Hinweise in
8.1
Vorbereitung des Geräts für die
TOP-Ansicht
Die Anzeigeoption „TOP-Ansicht" ermöglicht bei einem
Phased Array-Prüfkopf ein fortlaufendes Scannen bzw.
eine durch die Speicherkapazität begrenzte Aufnahme,
wenn ein Prüfkopf mit Encoder verwendet wird. Die TOP-
Ansicht entsteht aus Daten, die aus dem von der A- und
B-Blende erfassten Bereich eines Sektor- oder Linear-
Scans erfasst werden.
8.1.1 Konfigurieren des Phased Array-
Modus vor Aktivieren einer TOP-
Ansicht
Damit eine TOP-Ansicht angezeigt werden kann, muss
zunächst die Grundeinstellung für Phased Array-Ansichten
(die B-/SEKTOR-BILD-Ansicht) konfiguriert werden (siehe
Kapitel
2). TOP-Ansichten können aus beiden Arten
von Phased Array-Scans (Linear- oder Sektor-Scan)
erzeugt werden. Wichtig ist, dass die TOP-Ansicht nur
auf Amplituden- und TOF-Daten basiert, die mit der
A- und B-Blende erfasst werden. Auch werden beim
Speichern eines Datensatzes im TOP-Ansichtsmodus
die Amplituden- und TOF-Daten aus der A- und B-Blende
gespeichert (d. h. erfasst und in den Puffer eingelesen),
es sind jedoch keine A-Bilder oder sonstigen Ergebnisse
verfügbar.
So bereiten Sie das Erzeugen einer TOP-Ansicht vor:
Schritt 1: Überzeugen Sie sich davon, dass die Funktion
ANSICHTSMODUS (im Menü ANZEIGE, Untermenü
ANSICHT) auf B-/SEKTOR-BILD eingestellt ist. Diese
Einstellung entspricht dem normalen Phased Array-
Betrieb.
Schritt 2: Konfigurieren Sie einen Linear- oder Sektor-
Scan, der zum installierten Prüfkopf, zur Materialart
und zu den Prüfanforderungen passt, wie in
beschrieben. Justieren Sie das Prüfsystem, bestehend
aus Gerät und Prüfkopf.
8.4)
Abschnitt
8.4.
Kapitel 2
Seite 97
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