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JTAG – Schnittstelle
Mit dem JTAG-Interface des EB 200 können mehrere Funktionen der Baugruppe durchgeführt werden:
Debugging des EB 200 am Stecker X61 (siehe Beschaltung 1)
Boundary Scan aller Boundary-Scan fähigen ICs am Stecker X61 (siehe Beschaltung 1)
Die Auswahl Debugging oder Boundary Scan wird mit dem ERTEC 200 Eingang TAP_SEL eingestellt.
TAP_SEL = High BS disable Debugging selektiert.
TAP_SEL = Low BS enable Boundary Scan selektiert.
Zusätzlich zum Debuggen des EB 200 kann auch die integrierte Tracefunktion des ERTEC 200 genutzt werden.
Dazu stehen unterschiedliche Stecker zur Verfügung:
X61
20 pol. Stiftstecker nach Vorgaben der ARM ETM9 Macro Cell für Debug-Funktionalität
X60
38 pol. Mictor-Stecker für Debug- und Tracefunktionen
Folgende Einstellungen am Stecker X10 und X11 sind notwendig:
Das ETM9 Modul muß freigegeben sein CONFIG[6,5,2] = 101 b (siehe Kapitel 2.1.2).
Pin EN_TRACE_GPIO_N = High mit SYS_CONFIG[1:0] = 01 b (siehe Kapitel 2.1.2)
dadurch wird der Traceport über die Busswitches D4 u. D5 von der übrigen Logik abgetrennt.
Folgende Firmen haben Debugger und Tracemodule für den ARM946E in ihrem Programm:
Fa. Lauterbach (JTAG-Debugger/Power Trace für ARM9)
Fa. Hitex (Tanto für ARM, Tanto Trace Port)
Fa. ARM (RealView ICE/Debugger)
etc.
Beschreibung der ETM9 Macro Cell siehe /6/.
Beschreibung Multi-ICE siehe /7/.
Beschreibung IEEE Standard Test und Boundary Scan siehe /8/.
Hinweis: Am Stecker X61 (JTAG-Interface) sind DBGRQ (Pin17) und DBGACK (Pin19) Default nicht
verwendet (siehe 7.9). Das Signal „DBGACK" ist nicht am Stecker X61 Pin19 angeschlossen.
Fälschlicherweise wurde das Signal „ETMEXTIN1" am Stecker X61 Pin19 angeschlossen.
Wenn Sie die DBGACK Funktion am JTAG Stecker X61 benötigen, dann müssen Sie an Ihrem Evaluation
Board EB200 die Verdrahtung entsprechend ändern.
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Änderungen vorbehalten
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EB 200 Handbuch
Version 1.1.4
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