Agilent Technologies 8890 Benutzerhandbuch Seite 261

17 Chromatografische Überprüfung
Tabelle 46 ECD-Überprüfungsbedingungen
Säule und Probe
Typ
Probe
Säulenmodus
Säulenfluss
Split/Splitless-Einlass
Temperatur
Mode
Spülfluss
Spülzeit
Septumspülung
Multimodus-Einlass
Mode
Einlasstemperatur
Anfangszeit
Rate 1
Endtemperatur 1
Endzeit 1
Spülzeit
Spülfluss
Septumspülung
Purged-Packed-Säuleneinlass
Temperatur
Septumspülung
Kaltaufgabe-Einlass
Temperatur
Septumspülung
Benutzerhandbuch
HP-5, 30 m × 0,32 mm × 0,25 µm
(19091J-413)
ECD-Überprüfung (18713-60040 oder Japan:
5183-0379)
Konstanter Fluss
6,5 ml/min (Helium)
250 °C
Splitless
60 ml/min
0,75 min
3 ml/min
Splitless
80 °C
0,1 min
720 °C/min
250 °C
5 min
1,0 min
60 ml/min
3 ml/min
250 °C
3 ml/min
Ofen verfolgen
15 ml/min
261