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Hitachi CL32W30TAN Wartungshandbuch Seite 198

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Eine Möglichkeit für Gleichstromisolierung wird in der kapazitiven Schnittstelle zwischen diesen integrierten Schaltkreisen
bereitgestellt.
Diese Schnittstelle ist derzeit nicht auf den Flachbaugruppen montiert.
JTAG TEST-FÄHIGKEIT
Der Sicherungsschicht-Chip hat JTAG Test-Fähigkeit. Er kann konfiguriert werden als Teil eines Testsystems mit 'einer
Schleife' oder 'zwei Schleifen' mit einigen der anderen Chips auf der Flachbaugruppe, näheres dazu im folgenden 'JTAG Test'
Abschnitt.
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