Arbeitsblatt Jp-Protokoll - Ge Sievers 500 Rl On-Line Betriebsanleitung

Kapitel 6. Kalibrierung und Systemprotokolle

Arbeitsblatt JP-Protokoll

Firmenname _______________________________
Name des Analytikers _______________________
Analysator-Seriennummer ____________________
Chargennummer Standards-Kit (optional) _______
JP-Protokoll
SDBS-Mittelwert – TOC-Leerwertmittel = SDBS Leerwert-korrigierter Mittelwert
TOC-Leerwertmittel_____________________________________
SDBS-Mittelwert _______________________________________
Leerwert-korrigierter SDBS-Mittelwert _____________________
Annahmekriterien für JP-Protokoll TOC (nur):
TOC-Leerwertmittel < 250 ppb
Leerwert-korrigiertes Mittel > 450 ppb
____
Pass
JP-Leitfähigkeit
Temperatur-korrigiertes Leitfähigkeitsmittel von 29,4 μS/cm__________________
Temperatur __________________________________________________________
RSD__________________________________________________________________
Differenz ____________________________________________________________
Annahmekriterien für JP-Protokoll TOC und Leitfähigkeit:
TOC-Leerwertmittel < 250 ppb
Leerwert-korrigiertes Mittel >450 ppb
Leitfähigkeitsdifferenz < ±5%
RSD <2%
Probentemperatur liegt zwischen 15 °C und 30 °C
____
Pass
GE Analytical Instruments ©2011
____
Fail
____
Fail
144 / 207
Datum _______________________
Firmware-Version ______________
Ablaufdatum Standards _________
DLM 74001-07 DE Rev. A